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dc.contributor.author
Galceran, R.  
dc.contributor.author
Balcells, Ll.  
dc.contributor.author
Martinez Boubeta, C.  
dc.contributor.author
Bozzo, B.  
dc.contributor.author
Cisneros Fernández, J.  
dc.contributor.author
de la Mata, Manuel  
dc.contributor.author
Magén, C.  
dc.contributor.author
Arbiol, J.  
dc.contributor.author
Tornos, J.  
dc.contributor.author
Cuellar, F. A.  
dc.contributor.author
Sefrioui, Z.  
dc.contributor.author
Cebollada, A.  
dc.contributor.author
Golmar, Federico  
dc.contributor.author
Hueso, Luis E.  
dc.contributor.author
Casanova, F.  
dc.contributor.author
Santamaría, J.  
dc.contributor.author
Martinez, B.  
dc.date.available
2018-04-20T17:25:38Z  
dc.date.issued
2015-09  
dc.identifier.citation
Galceran, R.; Balcells, Ll.; Martinez Boubeta, C.; Bozzo, B.; Cisneros Fernández, J.; et al.; Interfacial effects on the tunneling magnetoresistance in La0.7Sr0.3MnO3/MgO/Fe tunneling junctions; American Physical Society; Physical Review B: Condensed Matter and Materials Physics; 92; 9-2015; 94428-94428  
dc.identifier.issn
1098-0121  
dc.identifier.uri
http://hdl.handle.net/11336/42846  
dc.description.abstract
We report on magnetotransport properties on La0.7Sr0.3MnO3/MgO/Fe tunnel junctions grown epitaxially on top of (001)-oriented SrTiO3 substrates by sputtering. It is shown that the magnetoresistive response depends critically on the MgO/Fe interfacial properties. The appearance of an FeOX layer by the interface destroys the DELTA1 symmetry filtering effect of the MgO/Fe system and only a small negative tunneling magnetoresistance (TMR) (∼ −3%) is measured. However, in annealed samples a switchover from positive TMR (∼ +25% at 70 K) to negative TMR (∼ −1%) is observed around 120 K. This change is associated with the transition from semiconducting at high T to insulating at low T taking place at the Verwey transition (TV ∼ 120 K) in Fe3O4, thus suggesting the formation of a very thin slab of magnetite at the MgO/Fe interface during annealing treatments.These results highlight the relevance of interfacial properties on the tunneling conduction process and how it can be substantially modified through appropriate interface engineering.  
dc.format
application/pdf  
dc.language.iso
eng  
dc.publisher
American Physical Society  
dc.rights
info:eu-repo/semantics/openAccess  
dc.rights.uri
https://creativecommons.org/licenses/by-nc-sa/2.5/ar/  
dc.subject
Tunneling Magnetoresistance  
dc.subject.classification
Astronomía  
dc.subject.classification
Ciencias Físicas  
dc.subject.classification
CIENCIAS NATURALES Y EXACTAS  
dc.title
Interfacial effects on the tunneling magnetoresistance in La0.7Sr0.3MnO3/MgO/Fe tunneling junctions  
dc.type
info:eu-repo/semantics/article  
dc.type
info:ar-repo/semantics/artículo  
dc.type
info:eu-repo/semantics/publishedVersion  
dc.date.updated
2018-04-12T14:32:12Z  
dc.journal.volume
92  
dc.journal.pagination
94428-94428  
dc.journal.pais
Estados Unidos  
dc.journal.ciudad
Maryland  
dc.description.fil
Fil: Galceran, R.. Consejo Superior de Investigaciones Científicas. Instituto de Ciencia de los Materiales de Barcelona; España  
dc.description.fil
Fil: Balcells, Ll.. Consejo Superior de Investigaciones Científicas. Instituto de Ciencia de los Materiales de Barcelona; España  
dc.description.fil
Fil: Martinez Boubeta, C.. Universidad de Barcelona; España  
dc.description.fil
Fil: Bozzo, B.. Consejo Superior de Investigaciones Científicas. Instituto de Ciencia de los Materiales de Barcelona; España  
dc.description.fil
Fil: Cisneros Fernández, J.. Consejo Superior de Investigaciones Científicas. Instituto de Ciencia de los Materiales de Barcelona; España  
dc.description.fil
Fil: de la Mata, Manuel. Consejo Superior de Investigaciones Científicas. Instituto de Ciencia de los Materiales de Barcelona; España  
dc.description.fil
Fil: Magén, C.. Universidad de Zaragoza; España  
dc.description.fil
Fil: Arbiol, J.. Consejo Superior de Investigaciones Científicas. Instituto de Ciencia de los Materiales de Barcelona; España. Institució Catalana de Recerca i Estudis Avancats; España  
dc.description.fil
Fil: Tornos, J.. Universidad Complutense de Madrid; España  
dc.description.fil
Fil: Cuellar, F. A.. Universidad Complutense de Madrid; España  
dc.description.fil
Fil: Sefrioui, Z.. Universidad Complutense de Madrid; España  
dc.description.fil
Fil: Cebollada, A.. Instituto de Microelectrónica de Madrid; España. Consejo Superior de Investigaciones Científicas; España  
dc.description.fil
Fil: Golmar, Federico. Universidad Nacional de San Martín. Escuela de Ciencia y Tecnología; Argentina. Consejo Nacional de Investigaciones Científicas y Técnicas; Argentina  
dc.description.fil
Fil: Hueso, Luis E.. Fundación Vasca para la Ciencia; España. CIC nanoGUNE; España  
dc.description.fil
Fil: Casanova, F.. Fundación Vasca para la Ciencia; España. CIC nanoGUNE; España  
dc.description.fil
Fil: Santamaría, J.. Universidad Complutense de Madrid; España  
dc.description.fil
Fil: Martinez, B.. Consejo Superior de Investigaciones Científicas. Instituto de Ciencia de los Materiales de Barcelona; España  
dc.journal.title
Physical Review B: Condensed Matter and Materials Physics  
dc.relation.alternativeid
info:eu-repo/semantics/altIdentifier/doi/http://dx.doi.org/10.1103/PhysRevB.92.094428  
dc.relation.alternativeid
info:eu-repo/semantics/altIdentifier/url/https://journals.aps.org/prb/abstract/10.1103/PhysRevB.92.094428