Artículo
Aplicación de la microscopía de fuerzas atómicas en el estudio de la adsorción de una amido-amina como inhibidor de corrosión
Fecha de publicación:
11/2009
Editorial:
Comité Interamericano de Sociedades de Microscopía Electrónica
Revista:
Acta Microscopica
ISSN:
0798-4545
Idioma:
Español
Tipo de recurso:
Artículo publicado
Clasificación temática:
Resumen
El mecanismo de inhibición de moléculas orgánicas como inhibidores de la corrosión por CO2 es todavía incierto. Muchas investigaciones se han llevado a cabo para entender el proceso de adsorción de diferentes moléculas de inhibidor pero poco es sabido acerca de las interacciones que ocurren entre las moléculas adsorbidas y la superficie metálica. La Microscopía de Fuerzas Atómicas (AFM) es una técnica de análisis de superficie que puede ser utilizada in-situ para caracterizar el film de un inhibidor sobre la superficie metálica. Así, esta técnica brinda información muy valiosa sobre el mecanismo de adsorción de inhibidores, complementariamente a los ensayos electroquímicos normalmente llevados a cabo. El objetivo del presente trabajo es cuantificar la fuerza de adhesión existente entre el film del inhibidor adsorbido y la superficie metálica mediante espectroscopia de fuerzas (curvas fuerza-distancia). Para esto se midieron dichas curvas a temperatura ambiente en modo contacto utilizando puntas de silicio sobre electrodos policristalinos de oro en aire e "in-situ", sumergiendo el sustrato metálico en el medio corrosivo (5%P/P NaCl, pH 6) en ausencia y en presencia del inhibidor. Los resultados preliminares permiten evidenciar que la fuerza de adhesión disminuye en presencia del medio corrosivo y es aún más baja debido a la acción del inhibidor de corrosión.
Palabras clave:
Microscopía de Fuerzas Atómicas
,
Inhibidor
,
Corrosion
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Citación
Desimone, Paula Mariela; Gordillo, Gabriel Jorge; Simison, Silvia Noemi; Aplicación de la microscopía de fuerzas atómicas en el estudio de la adsorción de una amido-amina como inhibidor de corrosión; Comité Interamericano de Sociedades de Microscopía Electrónica; Acta Microscopica; 18; Supp. C; 11-2009; 267-268
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