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dc.contributor.author
Ghenzi, Néstor
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dc.contributor.author
Rubi, Diego
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dc.contributor.author
Mangano, E.
dc.contributor.author
Gimenez, G.
dc.contributor.author
Lell, Julián Alejandro
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dc.contributor.author
Zelcer, Andrés
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dc.contributor.author
Stoliar, Pablo Alberto
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dc.contributor.author
Levy, Pablo Eduardo
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dc.date.available
2018-01-10T17:12:13Z
dc.date.issued
2013-11
dc.identifier.citation
Ghenzi, Néstor; Levy, Pablo Eduardo; Zelcer, Andrés; Lell, Julián Alejandro; Gimenez, G.; Rubi, Diego; et al.; Building memristive and radiation hardness TiO2-based junctions; Elsevier; Thin Solid Films; 550; 11-2013; 683-688
dc.identifier.issn
0040-6090
dc.identifier.uri
http://hdl.handle.net/11336/32812
dc.description.abstract
We study micro-scale TiO2 junctions that are suitable to be used as resistive random-access memory nonvolatile devices with radiation hardness memristive properties. The fabrication and structural and electrical characterization of the junctions are presented. We obtained a retentivity of 105 s, an endurance of 104 cycles and reliable switching with short electrical pulses (time-width below 10 ns). Additionally, the devices were exposed to 25 MeV oxygen ions. Then, we performed electrical measurements comparing pristine and irradiated devices in order to check the feasibility of using these junctions as memory elements with memristive and radiation hardness properties.
dc.format
application/pdf
dc.language.iso
eng
dc.publisher
Elsevier
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dc.rights
info:eu-repo/semantics/openAccess
dc.rights.uri
https://creativecommons.org/licenses/by-nc-sa/2.5/ar/
dc.subject
Radiation Hardness
dc.subject
Resistive Switching
dc.subject
Memristive
dc.subject
Nnon Volatile Memories
dc.subject.classification
Astronomía
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dc.subject.classification
Ciencias Físicas
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dc.subject.classification
CIENCIAS NATURALES Y EXACTAS
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dc.title
Building memristive and radiation hardness TiO2-based junctions
dc.type
info:eu-repo/semantics/article
dc.type
info:ar-repo/semantics/artículo
dc.type
info:eu-repo/semantics/publishedVersion
dc.date.updated
2018-01-08T19:47:18Z
dc.journal.volume
550
dc.journal.pagination
683-688
dc.journal.pais
Países Bajos
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dc.journal.ciudad
Ámsterdam
dc.description.fil
Fil: Ghenzi, Néstor. Comisión Nacional de Energía Atómica; Argentina. Consejo Nacional de Investigaciones Científicas y Técnicas; Argentina
dc.description.fil
Fil: Rubi, Diego. Comisión Nacional de Energía Atómica; Argentina. Universidad Nacional de San Martín. Escuela de Ciencia y Tecnología; Argentina. Consejo Nacional de Investigaciones Científicas y Técnicas; Argentina
dc.description.fil
Fil: Mangano, E.. Comisión Nacional de Energía Atómica. Gerencia Química. CAC; Argentina
dc.description.fil
Fil: Gimenez, G.. Comisión Nacional de Energía Atómica. Gerencia Química. CAC; Argentina
dc.description.fil
Fil: Lell, Julián Alejandro. Comisión Nacional de Energía Atómica; Argentina
dc.description.fil
Fil: Zelcer, Andrés. Consejo Nacional de Investigaciones Científicas y Técnicas; Argentina. Universidad Nacional de San Martín. Escuela de Ciencia y Tecnología; Argentina. Comisión Nacional de Energía Atómica. Gerencia Química. CAC; Argentina
dc.description.fil
Fil: Stoliar, Pablo Alberto. Universidad Nacional de San Martín. Escuela de Ciencia y Tecnología; Argentina. Universite de Nantes; Francia. Centre National de la Recherche Scientifique; Francia
dc.description.fil
Fil: Levy, Pablo Eduardo. Comisión Nacional de Energía Atómica; Argentina. Comisión Nacional de Energía Atómica. Gerencia Química. CAC; Argentina
dc.journal.title
Thin Solid Films
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dc.relation.alternativeid
info:eu-repo/semantics/altIdentifier/doi/http://dx.doi.org/10.1016/j.tsf.2013.11.013
dc.relation.alternativeid
info:eu-repo/semantics/altIdentifier/url/http://www.sciencedirect.com/science/article/pii/S0040609013018294
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