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Artículo

Fast sweep-rate plastic Faraday force magnetometer with simultaneous sample temperature measurement

Slobinsky, Demian GustavoIcon ; Borzi, Rodolfo AlbertoIcon ; Mackenzie, A. P.; Grigera, Santiago AndrésIcon
Fecha de publicación: 12/2012
Editorial: American Institute of Physics
Revista: Review of Scientific Instruments
ISSN: 0034-6748
Idioma: Inglés
Tipo de recurso: Artículo publicado
Clasificación temática:
Física de los Materiales Condensados

Resumen

We present a design for a magnetometer capable of operating at temperatures down to 50 mK and magnetic fields up to 15 T with integrated sample temperature measurement. Our design is based on the concept of a Faraday force magnetometer with a load-sensing variable capacitor. A plastic body allows for fast sweep rates and sample temperature measurement, and the possibility of regulating the initial capacitance simplifies the initial bridge balancing. Under moderate gradient fields of ∼1 T/m our prototype performed with a resolution better than 1 × 10−5 emu. The magnetometer can be operated either in a dc mode, or in an oscillatory mode which allows the determination of the magnetic susceptibility. We present measurements on Dy2Ti2O7 and Sr3Ru2O7 as an example of its performance.
Palabras clave: MAGNETOMETER , FARADAY FORCE , CAPACITOR , SPIN ICE
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info:eu-repo/semantics/openAccess Excepto donde se diga explícitamente, este item se publica bajo la siguiente descripción: Creative Commons Attribution-NonCommercial-ShareAlike 2.5 Unported (CC BY-NC-SA 2.5)
Identificadores
URI: http://hdl.handle.net/11336/268297
DOI: http://dx.doi.org/10.1063/1.4769049
Colecciones
Articulos(CCT - LA PLATA)
Articulos de CTRO.CIENTIFICO TECNOL.CONICET - LA PLATA
Articulos(IFLYSIB)
Articulos de INST.FISICA DE LIQUIDOS Y SIST.BIOLOGICOS (I)
Articulos(INIFTA)
Articulos de INST.DE INV.FISICOQUIMICAS TEORICAS Y APLIC.
Citación
Slobinsky, Demian Gustavo; Borzi, Rodolfo Alberto; Mackenzie, A. P.; Grigera, Santiago Andrés; Fast sweep-rate plastic Faraday force magnetometer with simultaneous sample temperature measurement; American Institute of Physics; Review of Scientific Instruments; 83; 12; 12-2012; 1251041-1251045
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