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dc.contributor.author
Tiffenberg, Javier Sebastian  
dc.contributor.author
Egaña Ugrinovic, Daniel  
dc.contributor.author
Sofo Haro, Miguel Francisco  
dc.contributor.author
Du, Peizhi  
dc.contributor.author
Essig, Rouven  
dc.contributor.author
Fernández Moroni, Guillermo  
dc.contributor.author
Uemura, Sho  
dc.date.available
2025-07-08T10:29:10Z  
dc.date.issued
2024-07  
dc.identifier.citation
Tiffenberg, Javier Sebastian; Egaña Ugrinovic, Daniel; Sofo Haro, Miguel Francisco; Du, Peizhi; Essig, Rouven; et al.; Dual-sided charge-coupled devices; American Physical Society; Physical Review Applied; 22; 1; 7-2024; 1-12  
dc.identifier.uri
http://hdl.handle.net/11336/265498  
dc.description.abstract
Existing Charge-Coupled Devices (CCDs) operate by detecting either the electrons or holes created in an ionization event. We propose a new type of imager, the Dual-Sided CCD, which collects and measures both charge carriers on opposite sides of the device via a novel dual-buried channel architecture. We show that this dual detection strategy provides exceptional dark-count rejection and enhanced timing capabilities. These advancements have wide-ranging implications for dark-matter searches, near-IR/optical spectroscopy, and time-domain X-ray astrophysics.  
dc.format
application/pdf  
dc.language.iso
eng  
dc.publisher
American Physical Society  
dc.rights
info:eu-repo/semantics/openAccess  
dc.rights.uri
https://creativecommons.org/licenses/by-nc-sa/2.5/ar/  
dc.subject
DETECTORS  
dc.subject
SENSORS  
dc.subject
CCD  
dc.subject
HIGH ENERGY PHYSICS  
dc.subject.classification
Ingeniería Eléctrica y Electrónica  
dc.subject.classification
Ingeniería Eléctrica, Ingeniería Electrónica e Ingeniería de la Información  
dc.subject.classification
INGENIERÍAS Y TECNOLOGÍAS  
dc.title
Dual-sided charge-coupled devices  
dc.type
info:eu-repo/semantics/article  
dc.type
info:ar-repo/semantics/artículo  
dc.type
info:eu-repo/semantics/publishedVersion  
dc.date.updated
2025-07-03T14:09:37Z  
dc.identifier.eissn
2331-7019  
dc.journal.volume
22  
dc.journal.number
1  
dc.journal.pagination
1-12  
dc.journal.pais
Estados Unidos  
dc.description.fil
Fil: Tiffenberg, Javier Sebastian. Consejo Nacional de Investigaciones Científicas y Técnicas; Argentina. Fermi National Accelerator Laboratory; Estados Unidos  
dc.description.fil
Fil: Egaña Ugrinovic, Daniel. Perimeter Institute for Theoretical Physics; Canadá  
dc.description.fil
Fil: Sofo Haro, Miguel Francisco. Consejo Nacional de Investigaciones Científicas y Técnicas; Argentina. Comisión Nacional de Energía Atómica. Gerencia del Área de Energía Nuclear. Instituto Balseiro. Archivo Histórico del Centro Atómico Bariloche e Instituto Balseiro | Universidad Nacional de Cuyo. Instituto Balseiro. Archivo Histórico del Centro Atómico Bariloche e Instituto Balseiro; Argentina  
dc.description.fil
Fil: Du, Peizhi. Rutgers University; Estados Unidos  
dc.description.fil
Fil: Essig, Rouven. Stony Brook University; Estados Unidos  
dc.description.fil
Fil: Fernández Moroni, Guillermo. Consejo Nacional de Investigaciones Científicas y Técnicas; Argentina. Fermi National Accelerator Laboratory; Estados Unidos  
dc.description.fil
Fil: Uemura, Sho. Fermi National Accelerator Laboratory; Estados Unidos  
dc.journal.title
Physical Review Applied  
dc.relation.alternativeid
info:eu-repo/semantics/altIdentifier/url/https://link.aps.org/doi/10.1103/PhysRevApplied.22.014008  
dc.relation.alternativeid
info:eu-repo/semantics/altIdentifier/doi/http://dx.doi.org/10.1103/PhysRevApplied.22.014008  
dc.relation.alternativeid
info:eu-repo/semantics/altIdentifier/arxiv/https://arxiv.org/abs/2307.13723