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dc.contributor.author
Asensio, Eduardo Maximiliano

dc.contributor.author
Siu, Ken King Man
dc.contributor.author
Astrada, Juan Carlos

dc.contributor.author
Serra, Federico Martin

dc.contributor.author
de Angelo, Cristian Hernan

dc.date.available
2025-06-26T13:14:11Z
dc.date.issued
2024-10
dc.identifier.citation
Asensio, Eduardo Maximiliano; Siu, Ken King Man; Astrada, Juan Carlos; Serra, Federico Martin; de Angelo, Cristian Hernan; Comprehensive Analysis and Reconstruction of Sensor Faults in Interleaved Buck Converters Using Sliding Mode Observers; MDPI; Electronics; 13; 21; 10-2024; 1-18
dc.identifier.issn
2079-9292
dc.identifier.uri
http://hdl.handle.net/11336/264667
dc.description.abstract
This paper presents a fault signal reconstruction method for current sensors in an interleaved buck DC–DC converter, utilizing a sliding mode observer (SMO). A filter bank is used to design the observer within an extended-order system, effectively treating sensor faults as actuator faults, which enables precise estimation of the fault signal. Thus, the proposed approach allows for the identification of the faulty sensor and supports the implementation of fault-tolerant strategies. The paper provides an in-depth analysis of current sensor faults, verifies their impact on current balancing control, and demonstrates the challenge of achieving error-free current estimation in one phase using observers. A comprehensive set of simulation results is carried out, validating the method’s effectiveness and showing a strong correlation with theoretical principles.
dc.format
application/pdf
dc.language.iso
eng
dc.publisher
MDPI
dc.rights
info:eu-repo/semantics/openAccess
dc.rights.uri
https://creativecommons.org/licenses/by/2.5/ar/
dc.subject
interleaved buck
dc.subject
fault detection
dc.subject
current sensors
dc.subject
current balancing
dc.subject
sliding modes
dc.subject.classification
Ingeniería Eléctrica y Electrónica

dc.subject.classification
Ingeniería Eléctrica, Ingeniería Electrónica e Ingeniería de la Información

dc.subject.classification
INGENIERÍAS Y TECNOLOGÍAS

dc.title
Comprehensive Analysis and Reconstruction of Sensor Faults in Interleaved Buck Converters Using Sliding Mode Observers
dc.type
info:eu-repo/semantics/article
dc.type
info:ar-repo/semantics/artículo
dc.type
info:eu-repo/semantics/publishedVersion
dc.date.updated
2025-06-23T13:15:01Z
dc.journal.volume
13
dc.journal.number
21
dc.journal.pagination
1-18
dc.journal.pais
Suiza

dc.description.fil
Fil: Asensio, Eduardo Maximiliano. Universidad Nacional de San Luis. Facultad de Ingeniería y Ciencias Agropecuarias. Laboratorio de Control Automático; Argentina. Consejo Nacional de Investigaciones Científicas y Técnicas; Argentina
dc.description.fil
Fil: Siu, Ken King Man. University of North Texas; Estados Unidos
dc.description.fil
Fil: Astrada, Juan Carlos. Universidad Nacional de Río Cuarto. Facultad de Ciencias Exactas Fisicoquímicas y Naturales. Instituto de Investigaciones en Tecnologías Energéticas y Materiales Avanzados. - Consejo Nacional de Investigaciones Científicas y Técnicas. Centro Científico Tecnológico Conicet - Córdoba. Instituto de Investigaciones en Tecnologías Energéticas y Materiales Avanzados; Argentina
dc.description.fil
Fil: Serra, Federico Martin. Universidad Nacional de San Luis. Facultad de Ingeniería y Ciencias Agropecuarias. Laboratorio de Control Automático; Argentina. Consejo Nacional de Investigaciones Científicas y Técnicas; Argentina
dc.description.fil
Fil: de Angelo, Cristian Hernan. Universidad Nacional de Río Cuarto. Facultad de Ciencias Exactas Fisicoquímicas y Naturales. Instituto de Investigaciones en Tecnologías Energéticas y Materiales Avanzados. - Consejo Nacional de Investigaciones Científicas y Técnicas. Centro Científico Tecnológico Conicet - Córdoba. Instituto de Investigaciones en Tecnologías Energéticas y Materiales Avanzados; Argentina
dc.journal.title
Electronics
dc.relation.alternativeid
info:eu-repo/semantics/altIdentifier/url/https://www.mdpi.com/2079-9292/13/21/4202
dc.relation.alternativeid
info:eu-repo/semantics/altIdentifier/doi/http://dx.doi.org/10.3390/electronics13214202
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