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Artículo

Inter-Turn Short-Circuit Detection Through Differential Admittance Monitoring in Transformers

Leal Hansen, Gustavo GabrielIcon ; Meira, Matias; Bossio, Guillermo RubénIcon ; Ruschetti, Cristian RobertoIcon ; Verucchi, Carlos
Fecha de publicación: 04/2024
Editorial: Institute of Electrical and Electronics Engineers
Revista: Ieee Transactions on Instrumentation and Measurement
ISSN: 0018-9456
Idioma: Inglés
Tipo de recurso: Artículo publicado
Clasificación temática:
Ingeniería Eléctrica y Electrónica

Resumen

Early detection of inter-turn short-circuits (ITSCs) in power transformers is essential for ensuring the safe and reliable operation of electrical power systems. Therefore, it is necessary to develop efficient detection strategies. In this article, a strategy for detecting ITSCs of a transformer based on monitoring electrical variables is proposed. An indicator for fault diagnosis obtained from the calculation of differential admittances is proposed. Experimental tests on a 5-kVA transformer validate the proposal. The strategy is sensitive to faults involving 1% of the winding turns with rated current in the fault loop. Besides, it is shown that the fault detection strategy is immune to changes in the load state, undervoltage, load or voltage unbalance, and transformer vector group.
Palabras clave: Electrical fault detection , fault protection , power transformers , power transformers
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info:eu-repo/semantics/restrictedAccess Excepto donde se diga explícitamente, este item se publica bajo la siguiente descripción: Creative Commons Attribution-NonCommercial-ShareAlike 2.5 Unported (CC BY-NC-SA 2.5)
Identificadores
URI: http://hdl.handle.net/11336/259888
URL: https://ieeexplore.ieee.org/document/10504146/
DOI: http://dx.doi.org/10.1109/TIM.2024.3390202
Colecciones
Articulos (IITEMA)
Articulos de INSTITUTO DE INVESTIGACIONES EN TECNOLOGIAS ENERGETICAS Y MATERIALES AVANZADOS
Articulos(CIFICEN)
Articulos de CENTRO DE INV. EN FISICA E INGENIERIA DEL CENTRO DE LA PCIA. DE BS. AS.
Citación
Leal Hansen, Gustavo Gabriel; Meira, Matias; Bossio, Guillermo Rubén; Ruschetti, Cristian Roberto; Verucchi, Carlos; Inter-Turn Short-Circuit Detection Through Differential Admittance Monitoring in Transformers; Institute of Electrical and Electronics Engineers; Ieee Transactions on Instrumentation and Measurement; 73; 4-2024; 1-8
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