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dc.contributor.author
Fernández Moroni, Guillermo
dc.contributor.author
Estrada, Juan
dc.contributor.author
Paolini, Eduardo Emilio
dc.contributor.author
Cancelo, Gustavo
dc.contributor.author
Diehl, Thomas
dc.date.available
2024-07-01T11:57:25Z
dc.date.issued
2011
dc.identifier.citation
Achieving sub-electron readout noise in Skipper CCDs; 2011 Argentine School of Micro-Nanoelectronics, Technology and Applications; Buenos Aires; Argentina; 2011; 1-6
dc.identifier.isbn
978-1-4577-1236-4
dc.identifier.uri
http://hdl.handle.net/11336/238684
dc.description.abstract
The readout noise for Charge-Coupled Devices (CCDs) has been the main limitation when using these detectors for measuring small amplitude signals. A readout system for a very low noise scientific CCD is presented in this paper. The Skipper CCD architecture, and its advantages for low noise applications are discussed. A technique for obtaining sub-electron readout noise levels is presented, and its noise and signal characteristics are derived. Some experimental results that confirm the low-noise performance of the proposed technique are provided.
dc.format
application/pdf
dc.language.iso
eng
dc.publisher
Institute of Electrical and Electronics Engineers
dc.rights
info:eu-repo/semantics/restrictedAccess
dc.rights.uri
https://creativecommons.org/licenses/by-nc-sa/2.5/ar/
dc.subject
CCD image sensors
dc.subject
Charge coupled devices
dc.subject.classification
Ingeniería Eléctrica y Electrónica
dc.subject.classification
Ingeniería Eléctrica, Ingeniería Electrónica e Ingeniería de la Información
dc.subject.classification
INGENIERÍAS Y TECNOLOGÍAS
dc.title
Achieving sub-electron readout noise in Skipper CCDs
dc.type
info:eu-repo/semantics/publishedVersion
dc.type
info:eu-repo/semantics/conferenceObject
dc.type
info:ar-repo/semantics/documento de conferencia
dc.date.updated
2023-10-03T10:25:27Z
dc.journal.pagination
1-6
dc.journal.pais
Argentina
dc.journal.ciudad
Buenos Aires
dc.description.fil
Fil: Fernández Moroni, Guillermo. Consejo Nacional de Investigaciones Científicas y Técnicas. Centro Científico Tecnológico Conicet - Bahía Blanca. Instituto de Investigaciones en Ingeniería Eléctrica "Alfredo Desages". Universidad Nacional del Sur. Departamento de Ingeniería Eléctrica y de Computadoras. Instituto de Investigaciones en Ingeniería Eléctrica "Alfredo Desages"; Argentina
dc.description.fil
Fil: Estrada, Juan. Fermi National Accelerator Laboratory; Estados Unidos
dc.description.fil
Fil: Paolini, Eduardo Emilio. Universidad Nacional del Sur; Argentina. Consejo Nacional de Investigaciones Científicas y Técnicas. Centro Científico Tecnológico Conicet - Bahía Blanca. Instituto de Investigaciones en Ingeniería Eléctrica "Alfredo Desages". Universidad Nacional del Sur. Departamento de Ingeniería Eléctrica y de Computadoras. Instituto de Investigaciones en Ingeniería Eléctrica "Alfredo Desages"; Argentina
dc.description.fil
Fil: Cancelo, Gustavo. Fermi National Accelerator Laboratory; Estados Unidos
dc.description.fil
Fil: Diehl, Thomas. Fermi National Accelerator Laboratory; Estados Unidos
dc.relation.alternativeid
info:eu-repo/semantics/altIdentifier/url/http://ieeexplore.ieee.org/xpl/articleDetails.jsp?tp=&arnumber=6021280&queryText%3Dskipper
dc.relation.alternativeid
info:eu-repo/semantics/altIdentifier/url/https://doi.org/10.48550/arXiv.1106.1839
dc.conicet.rol
Autor
dc.conicet.rol
Autor
dc.conicet.rol
Autor
dc.conicet.rol
Autor
dc.conicet.rol
Autor
dc.coverage
Internacional
dc.type.subtype
Conferencia
dc.description.nombreEvento
2011 Argentine School of Micro-Nanoelectronics, Technology and Applications
dc.date.evento
2011-08-11
dc.description.ciudadEvento
Buenos Aires
dc.description.paisEvento
Argentina
dc.type.publicacion
Book
dc.description.institucionOrganizadora
Institute of Electrical and Electronics Engineers
dc.source.libro
2011 Argentine School of Micro-Nanoelectronics, Technology and Applications
dc.date.eventoHasta
2011-08-12
dc.type
Conferencia
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Tamaño:
2.942Mb
Formato:
PDF