Mostrar el registro sencillo del ítem
dc.contributor.author
Urbina Medina, Ivan Alexander
![Se ha confirmado la validez de este valor de autoridad por un usuario](/themes/CONICETDigital/images/authority_control/invisible.gif)
dc.contributor.author
Carneiro, Deborah D.
dc.contributor.author
Rocha, Suellen
dc.contributor.author
Farias, Eliel E.
dc.contributor.author
Bredice, Fausto Osvaldo
![Se ha confirmado la validez de este valor de autoridad por un usuario](/themes/CONICETDigital/images/authority_control/invisible.gif)
dc.contributor.author
Palleschi, Vincenzo
![Se ha confirmado la validez de este valor de autoridad por un usuario](/themes/CONICETDigital/images/authority_control/invisible.gif)
dc.date.available
2024-05-28T16:00:05Z
dc.date.issued
2021-03
dc.identifier.citation
Urbina Medina, Ivan Alexander; Carneiro, Deborah D.; Rocha, Suellen; Farias, Eliel E.; Bredice, Fausto Osvaldo; et al.; Branching Ratio Method for Assessing Optically Thin Conditions in Laser-Induced Plasmas; SAGE Publications; Applied Spectroscopy; 75; 7; 3-2021; 774-780
dc.identifier.issn
1943-3530
dc.identifier.uri
http://hdl.handle.net/11336/236340
dc.description.abstract
The branching ratio method is usually used to evaluate the optical thinness conditions in laser-generated plasmas, whichare important for the application of analytical methods such calibration free laser induced breakdown spectroscopy (CFLIBS).In this communication, we warn on the possibility that in some circumstances, the branching-ratio method mightgive results close to the one characterizing optically thin plasma conditions, even in the presence of a substantial selfabsorptionfor the transitions considered.
dc.format
application/pdf
dc.language.iso
eng
dc.publisher
SAGE Publications
![Se ha confirmado la validez de este valor de autoridad por un usuario](/themes/CONICETDigital/images/authority_control/invisible.gif)
dc.rights
info:eu-repo/semantics/restrictedAccess
dc.rights.uri
https://creativecommons.org/licenses/by-nc-sa/2.5/ar/
dc.subject
libs
dc.subject.classification
Física Atómica, Molecular y Química
![Se ha confirmado la validez de este valor de autoridad por un usuario](/themes/CONICETDigital/images/authority_control/invisible.gif)
dc.subject.classification
Ciencias Físicas
![Se ha confirmado la validez de este valor de autoridad por un usuario](/themes/CONICETDigital/images/authority_control/invisible.gif)
dc.subject.classification
CIENCIAS NATURALES Y EXACTAS
![Se ha confirmado la validez de este valor de autoridad por un usuario](/themes/CONICETDigital/images/authority_control/invisible.gif)
dc.title
Branching Ratio Method for Assessing Optically Thin Conditions in Laser-Induced Plasmas
dc.type
info:eu-repo/semantics/article
dc.type
info:ar-repo/semantics/artículo
dc.type
info:eu-repo/semantics/publishedVersion
dc.date.updated
2024-05-28T14:33:26Z
dc.journal.volume
75
dc.journal.number
7
dc.journal.pagination
774-780
dc.journal.pais
Argentina
![Se ha confirmado la validez de este valor de autoridad por un usuario](/themes/CONICETDigital/images/authority_control/invisible.gif)
dc.description.fil
Fil: Urbina Medina, Ivan Alexander. Consejo Nacional de Investigaciones Científicas y Técnicas. Centro Científico Tecnológico Conicet - La Plata. Centro de Investigaciones Ópticas. Provincia de Buenos Aires. Gobernación. Comisión de Investigaciones Científicas. Centro de Investigaciones Ópticas. Universidad Nacional de La Plata. Centro de Investigaciones Ópticas; Argentina
dc.description.fil
Fil: Carneiro, Deborah D.. Universidad Federal de Roraima; Brasil
dc.description.fil
Fil: Rocha, Suellen. Universidad Federal de Roraima; Brasil
dc.description.fil
Fil: Farias, Eliel E.. Universidad Federal de Roraima; Brasil
dc.description.fil
Fil: Bredice, Fausto Osvaldo. Consejo Nacional de Investigaciones Científicas y Técnicas. Centro Científico Tecnológico Conicet - La Plata. Centro de Investigaciones Ópticas. Provincia de Buenos Aires. Gobernación. Comisión de Investigaciones Científicas. Centro de Investigaciones Ópticas. Universidad Nacional de La Plata. Centro de Investigaciones Ópticas; Argentina
dc.description.fil
Fil: Palleschi, Vincenzo. Institute of Chemistry of Organometallic; Italia
dc.journal.title
Applied Spectroscopy
![Se ha confirmado la validez de este valor de autoridad por un usuario](/themes/CONICETDigital/images/authority_control/invisible.gif)
dc.relation.alternativeid
info:eu-repo/semantics/altIdentifier/url/https://journals.sagepub.com/doi/10.1177/00037028211006764
dc.relation.alternativeid
info:eu-repo/semantics/altIdentifier/doi/http://dx.doi.org/10.1177/00037028211006764
Archivos asociados