Mostrar el registro sencillo del ítem
dc.contributor.author
Assis, M.
dc.contributor.author
Castro, Miriam Susana
![Se ha confirmado la validez de este valor de autoridad por un usuario](/themes/CONICETDigital/images/authority_control/invisible.gif)
dc.contributor.author
Aldao, Celso Manuel
![Se ha confirmado la validez de este valor de autoridad por un usuario](/themes/CONICETDigital/images/authority_control/invisible.gif)
dc.contributor.author
Buono, Camila
![Se ha confirmado la validez de este valor de autoridad por un usuario](/themes/CONICETDigital/images/authority_control/invisible.gif)
dc.contributor.author
Ortega, P. P.
dc.contributor.author
Teodoro, M. D.
dc.contributor.author
Andrés, J.
dc.contributor.author
Gouveia, A. F.
dc.contributor.author
Simões, A. Z.
dc.contributor.author
Longo, E.
dc.contributor.author
Macchi, Carlos Eugenio
![Se ha confirmado la validez de este valor de autoridad por un usuario](/themes/CONICETDigital/images/authority_control/invisible.gif)
dc.contributor.author
Somoza, Alberto Horacio
![Se ha confirmado la validez de este valor de autoridad por un usuario](/themes/CONICETDigital/images/authority_control/invisible.gif)
dc.contributor.author
Moura, Francisco José
dc.contributor.author
Ponce, Miguel Adolfo
![Se ha confirmado la validez de este valor de autoridad por un usuario](/themes/CONICETDigital/images/authority_control/invisible.gif)
dc.date.available
2024-04-11T14:00:46Z
dc.date.issued
2023-03
dc.identifier.citation
Assis, M.; Castro, Miriam Susana; Aldao, Celso Manuel; Buono, Camila; Ortega, P. P.; et al.; Disclosing the nature of vacancy defects in α-Ag2WO4; Pergamon-Elsevier Science Ltd; Materials Research Bulletin; 164; 112252; 3-2023; 112252
dc.identifier.issn
0025-5408
dc.identifier.uri
http://hdl.handle.net/11336/232717
dc.description.abstract
Defects at semiconductors with electron acceptor and donor sites govern the electronic and optoelectronic applications due to their unique electronic properties. This work provides deep insight into the nature of defects and the conduction mechanism in α-Ag2WO4. To this aim, a detailed analysis of the results of XRD with Rietveld refinements, FE-SEM images, and measurements of different spectroscopies (impedance, positron annihilation lifetime, and photoluminescence) are carried out on α-Ag2WO4 samples synthesized by a simple co-precipitation method. Two types of vacancy defects: cationic O-vacancies, and anionic Ag or Ag–O vacancy complexes are elucidated with a Schottky p-type potential barrier. The results indicate that the Ag vacancies remain constant during thermal treatment, while an opposite effect is found for the oxygen vacancies. This behavior governs the multifunctional properties of α-Ag2WO4 semiconductors via a tunneling plus thermionic conduction mechanism.
dc.format
application/pdf
dc.language.iso
eng
dc.publisher
Pergamon-Elsevier Science Ltd
![Se ha confirmado la validez de este valor de autoridad por un usuario](/themes/CONICETDigital/images/authority_control/invisible.gif)
dc.rights
info:eu-repo/semantics/openAccess
dc.rights.uri
https://creativecommons.org/licenses/by-nc-sa/2.5/ar/
dc.subject
Vacancias
dc.subject
Plata
dc.subject
Semiconductores
dc.subject
Impedancias
dc.subject.classification
Cerámicos
![Se ha confirmado la validez de este valor de autoridad por un usuario](/themes/CONICETDigital/images/authority_control/invisible.gif)
dc.subject.classification
Ingeniería de los Materiales
![Se ha confirmado la validez de este valor de autoridad por un usuario](/themes/CONICETDigital/images/authority_control/invisible.gif)
dc.subject.classification
INGENIERÍAS Y TECNOLOGÍAS
![Se ha confirmado la validez de este valor de autoridad por un usuario](/themes/CONICETDigital/images/authority_control/invisible.gif)
dc.title
Disclosing the nature of vacancy defects in α-Ag2WO4
dc.type
info:eu-repo/semantics/article
dc.type
info:ar-repo/semantics/artículo
dc.type
info:eu-repo/semantics/publishedVersion
dc.date.updated
2024-03-13T15:07:25Z
dc.journal.volume
164
dc.journal.number
112252
dc.journal.pagination
112252
dc.journal.pais
Estados Unidos
![Se ha confirmado la validez de este valor de autoridad por un usuario](/themes/CONICETDigital/images/authority_control/invisible.gif)
dc.journal.ciudad
New York
dc.description.fil
Fil: Assis, M.. Universidade Federal do São Carlos; Brasil
dc.description.fil
Fil: Castro, Miriam Susana. Consejo Nacional de Investigaciones Científicas y Técnicas. Centro Científico Tecnológico Conicet - Mar del Plata. Instituto de Investigaciones en Ciencia y Tecnología de Materiales. Universidad Nacional de Mar del Plata. Facultad de Ingeniería. Instituto de Investigaciones en Ciencia y Tecnología de Materiales; Argentina
dc.description.fil
Fil: Aldao, Celso Manuel. Universidad Nacional de Mar del Plata; Argentina. Consejo Nacional de Investigaciones Científicas y Técnicas. Centro Científico Tecnológico Conicet - Mar del Plata. Instituto de Investigaciones Científicas y Tecnológicas en Electrónica. Universidad Nacional de Mar del Plata. Facultad de Ingeniería. Instituto de Investigaciones Científicas y Tecnológicas en Electrónica; Argentina
dc.description.fil
Fil: Buono, Camila. Universidad Nacional de Mar del Plata; Argentina. Consejo Nacional de Investigaciones Científicas y Técnicas. Centro Científico Tecnológico Conicet - Mar del Plata. Instituto de Investigaciones en Ciencia y Tecnología de Materiales. Universidad Nacional de Mar del Plata. Facultad de Ingeniería. Instituto de Investigaciones en Ciencia y Tecnología de Materiales; Argentina
dc.description.fil
Fil: Ortega, P. P.. Universidade Federal de Sao Paulo; Brasil
dc.description.fil
Fil: Teodoro, M. D.. Universidade Federal do São Carlos; Brasil
dc.description.fil
Fil: Andrés, J.. Universitat Jaume I; España
dc.description.fil
Fil: Gouveia, A. F.. Universitat Jaume I; España
dc.description.fil
Fil: Simões, A. Z.. Universidade Federal de Sao Paulo; Brasil
dc.description.fil
Fil: Longo, E.. Universidade Federal do São Carlos; Brasil
dc.description.fil
Fil: Macchi, Carlos Eugenio. Universidad Nacional del Centro de la Provincia de Buenos Aires; Argentina
dc.description.fil
Fil: Somoza, Alberto Horacio. Universidad Nacional del Centro de la Provincia de Buenos Aires. Facultad de Ciencias Exactas. Instituto de Física de Materiales; Argentina. Consejo Nacional de Investigaciones Científicas y Técnicas; Argentina
dc.description.fil
Fil: Moura, Francisco José. Universidad Nacional del Centro de la Provincia de Buenos Aires; Argentina
dc.description.fil
Fil: Ponce, Miguel Adolfo. Universidad Nacional del Centro de la Provincia de Buenos Aires; Argentina. Consejo Nacional de Investigaciones Científicas y Técnicas. Centro Científico Tecnológico Conicet - Mar del Plata. Instituto de Investigaciones en Ciencia y Tecnología de Materiales. Universidad Nacional de Mar del Plata. Facultad de Ingeniería. Instituto de Investigaciones en Ciencia y Tecnología de Materiales; Argentina
dc.journal.title
Materials Research Bulletin
![Se ha confirmado la validez de este valor de autoridad por un usuario](/themes/CONICETDigital/images/authority_control/invisible.gif)
dc.relation.alternativeid
info:eu-repo/semantics/altIdentifier/url/https://linkinghub.elsevier.com/retrieve/pii/S0025540823001071
dc.relation.alternativeid
info:eu-repo/semantics/altIdentifier/doi/https://doi.org/10.1016/j.materresbull.2023.112252
Archivos asociados