Mostrar el registro sencillo del ítem

dc.contributor.author
Maroli, Gabriel  
dc.contributor.author
Boyeras, Santiago  
dc.contributor.author
Giannetta, Hernan  
dc.contributor.author
Pazos, Sebastian  
dc.contributor.author
Gak, Joel  
dc.contributor.author
Oliva, Alejandro Raul  
dc.contributor.author
Volpe, María Alicia  
dc.contributor.author
Julian, Pedro Marcelo  
dc.contributor.author
Palumbo, Felix Roberto Mario  
dc.date.available
2024-03-12T10:40:19Z  
dc.date.issued
2023-01  
dc.identifier.citation
Maroli, Gabriel; Boyeras, Santiago; Giannetta, Hernan; Pazos, Sebastian; Gak, Joel; et al.; Analytic circuit model for thermal drying behavior of electronic inks; Frontiers Media; Frontiers in Electronics; 3; 1-2023; 1-8  
dc.identifier.issn
2673-5857  
dc.identifier.uri
http://hdl.handle.net/11336/230110  
dc.description.abstract
Understanding the sintering process of conductive inks is a fundamental step in the development of sensors. The intrinsic properties (such as thermal conductivity, resistivity, thermal coefficient, among others) of the printed devices do not correspond to those of the bulk materials. In the field of biosensors porosity plays a predominant role, since it defines the difference between the geometric area of the working electrode and its electrochemical surface area. The analysis reported so far in the literature on the sintering of inks are based on their DC characterization. In this work, the shape and distribution of the nanoparticles that make up the silver ink have been studied employing a transmission electron microscopy. Images of the printed traces have been obtained through a scanning electron microscope at different sintering times, allowing to observe how the material decreases its porosity over time. These structural changes were supported through electrical measurements of the change in the trace impedance as a function of drying time. The resistivity and thermal coefficient of the printed tracks were analyzed and compared with the values of bulk silver. Finally, this work proposes an analytical circuit model of the drying behavior of the ink based on AC characterization at different frequencies. The characterization considers an initial time when the spheric nanoparticles are still surrounded by the capping agent until the conductive trace is obtained. This model can estimate the characteristics that the printed devices would have, whether they are used as biosensors (porous material) or as interconnections (compact material) in printed electronics.  
dc.format
application/pdf  
dc.language.iso
eng  
dc.publisher
Frontiers Media  
dc.rights
info:eu-repo/semantics/openAccess  
dc.rights.uri
https://creativecommons.org/licenses/by-nc-sa/2.5/ar/  
dc.subject
PRINTED ELECTRONICS  
dc.subject
SILVER INK  
dc.subject
SINTERING  
dc.subject
WEARABLES  
dc.subject
ANALYTICAL MODEL  
dc.subject.classification
Otras Ingeniería de los Materiales  
dc.subject.classification
Ingeniería de los Materiales  
dc.subject.classification
INGENIERÍAS Y TECNOLOGÍAS  
dc.subject.classification
Ingeniería Eléctrica y Electrónica  
dc.subject.classification
Ingeniería Eléctrica, Ingeniería Electrónica e Ingeniería de la Información  
dc.subject.classification
INGENIERÍAS Y TECNOLOGÍAS  
dc.title
Analytic circuit model for thermal drying behavior of electronic inks  
dc.type
info:eu-repo/semantics/article  
dc.type
info:ar-repo/semantics/artículo  
dc.type
info:eu-repo/semantics/publishedVersion  
dc.date.updated
2024-01-23T14:56:43Z  
dc.journal.volume
3  
dc.journal.pagination
1-8  
dc.journal.pais
Suiza  
dc.journal.ciudad
Lausanne  
dc.description.fil
Fil: Maroli, Gabriel. Consejo Nacional de Investigaciones Científicas y Técnicas. Centro Científico Tecnológico Conicet - Bahía Blanca. Instituto de Investigaciones en Ingeniería Eléctrica "Alfredo Desages". Universidad Nacional del Sur. Departamento de Ingeniería Eléctrica y de Computadoras. Instituto de Investigaciones en Ingeniería Eléctrica "Alfredo Desages"; Argentina  
dc.description.fil
Fil: Boyeras, Santiago. Universidad Tecnológica Nacional. Facultad Regional Buenos Aires. Unidad de Investigación y Desarrollo de las Ingenierías; Argentina  
dc.description.fil
Fil: Giannetta, Hernan. Universidad Tecnológica Nacional. Facultad Regional Buenos Aires. Unidad de Investigación y Desarrollo de las Ingenierías; Argentina. Consejo Nacional de Investigaciones Científicas y Técnicas; Argentina  
dc.description.fil
Fil: Pazos, Sebastian. Universidad Tecnológica Nacional. Facultad Regional Buenos Aires. Unidad de Investigación y Desarrollo de las Ingenierías; Argentina  
dc.description.fil
Fil: Gak, Joel. Universidad Católica del Uruguay; Uruguay  
dc.description.fil
Fil: Oliva, Alejandro Raul. Consejo Nacional de Investigaciones Científicas y Técnicas. Centro Científico Tecnológico Conicet - Bahía Blanca. Instituto de Investigaciones en Ingeniería Eléctrica "Alfredo Desages". Universidad Nacional del Sur. Departamento de Ingeniería Eléctrica y de Computadoras. Instituto de Investigaciones en Ingeniería Eléctrica "Alfredo Desages"; Argentina  
dc.description.fil
Fil: Volpe, María Alicia. Consejo Nacional de Investigaciones Científicas y Técnicas. Centro Científico Tecnológico Conicet - Bahía Blanca. Planta Piloto de Ingeniería Química. Universidad Nacional del Sur. Planta Piloto de Ingeniería Química; Argentina  
dc.description.fil
Fil: Julian, Pedro Marcelo. Consejo Nacional de Investigaciones Científicas y Técnicas. Centro Científico Tecnológico Conicet - Bahía Blanca. Instituto de Investigaciones en Ingeniería Eléctrica "Alfredo Desages". Universidad Nacional del Sur. Departamento de Ingeniería Eléctrica y de Computadoras. Instituto de Investigaciones en Ingeniería Eléctrica "Alfredo Desages"; Argentina  
dc.description.fil
Fil: Palumbo, Felix Roberto Mario. Universidad Tecnológica Nacional. Facultad Regional Buenos Aires. Unidad de Investigación y Desarrollo de las Ingenierías; Argentina. Consejo Nacional de Investigaciones Científicas y Técnicas; Argentina  
dc.journal.title
Frontiers in Electronics  
dc.relation.alternativeid
info:eu-repo/semantics/altIdentifier/url/https://www.frontiersin.org/articles/10.3389/felec.2022.1060197/full  
dc.relation.alternativeid
info:eu-repo/semantics/altIdentifier/doi/http://dx.doi.org/10.3389/felec.2022.1060197