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dc.contributor.author
Maroli, Gabriel
dc.contributor.author
Boyeras, Santiago
dc.contributor.author
Giannetta, Hernan
dc.contributor.author
Pazos, Sebastian
dc.contributor.author
Gak, Joel
dc.contributor.author
Oliva, Alejandro Raul
dc.contributor.author
Volpe, María Alicia
dc.contributor.author
Julian, Pedro Marcelo
dc.contributor.author
Palumbo, Felix Roberto Mario
dc.date.available
2024-03-12T10:40:19Z
dc.date.issued
2023-01
dc.identifier.citation
Maroli, Gabriel; Boyeras, Santiago; Giannetta, Hernan; Pazos, Sebastian; Gak, Joel; et al.; Analytic circuit model for thermal drying behavior of electronic inks; Frontiers Media; Frontiers in Electronics; 3; 1-2023; 1-8
dc.identifier.issn
2673-5857
dc.identifier.uri
http://hdl.handle.net/11336/230110
dc.description.abstract
Understanding the sintering process of conductive inks is a fundamental step in the development of sensors. The intrinsic properties (such as thermal conductivity, resistivity, thermal coefficient, among others) of the printed devices do not correspond to those of the bulk materials. In the field of biosensors porosity plays a predominant role, since it defines the difference between the geometric area of the working electrode and its electrochemical surface area. The analysis reported so far in the literature on the sintering of inks are based on their DC characterization. In this work, the shape and distribution of the nanoparticles that make up the silver ink have been studied employing a transmission electron microscopy. Images of the printed traces have been obtained through a scanning electron microscope at different sintering times, allowing to observe how the material decreases its porosity over time. These structural changes were supported through electrical measurements of the change in the trace impedance as a function of drying time. The resistivity and thermal coefficient of the printed tracks were analyzed and compared with the values of bulk silver. Finally, this work proposes an analytical circuit model of the drying behavior of the ink based on AC characterization at different frequencies. The characterization considers an initial time when the spheric nanoparticles are still surrounded by the capping agent until the conductive trace is obtained. This model can estimate the characteristics that the printed devices would have, whether they are used as biosensors (porous material) or as interconnections (compact material) in printed electronics.
dc.format
application/pdf
dc.language.iso
eng
dc.publisher
Frontiers Media
dc.rights
info:eu-repo/semantics/openAccess
dc.rights.uri
https://creativecommons.org/licenses/by-nc-sa/2.5/ar/
dc.subject
PRINTED ELECTRONICS
dc.subject
SILVER INK
dc.subject
SINTERING
dc.subject
WEARABLES
dc.subject
ANALYTICAL MODEL
dc.subject.classification
Otras Ingeniería de los Materiales
dc.subject.classification
Ingeniería de los Materiales
dc.subject.classification
INGENIERÍAS Y TECNOLOGÍAS
dc.subject.classification
Ingeniería Eléctrica y Electrónica
dc.subject.classification
Ingeniería Eléctrica, Ingeniería Electrónica e Ingeniería de la Información
dc.subject.classification
INGENIERÍAS Y TECNOLOGÍAS
dc.title
Analytic circuit model for thermal drying behavior of electronic inks
dc.type
info:eu-repo/semantics/article
dc.type
info:ar-repo/semantics/artículo
dc.type
info:eu-repo/semantics/publishedVersion
dc.date.updated
2024-01-23T14:56:43Z
dc.journal.volume
3
dc.journal.pagination
1-8
dc.journal.pais
Suiza
dc.journal.ciudad
Lausanne
dc.description.fil
Fil: Maroli, Gabriel. Consejo Nacional de Investigaciones Científicas y Técnicas. Centro Científico Tecnológico Conicet - Bahía Blanca. Instituto de Investigaciones en Ingeniería Eléctrica "Alfredo Desages". Universidad Nacional del Sur. Departamento de Ingeniería Eléctrica y de Computadoras. Instituto de Investigaciones en Ingeniería Eléctrica "Alfredo Desages"; Argentina
dc.description.fil
Fil: Boyeras, Santiago. Universidad Tecnológica Nacional. Facultad Regional Buenos Aires. Unidad de Investigación y Desarrollo de las Ingenierías; Argentina
dc.description.fil
Fil: Giannetta, Hernan. Universidad Tecnológica Nacional. Facultad Regional Buenos Aires. Unidad de Investigación y Desarrollo de las Ingenierías; Argentina. Consejo Nacional de Investigaciones Científicas y Técnicas; Argentina
dc.description.fil
Fil: Pazos, Sebastian. Universidad Tecnológica Nacional. Facultad Regional Buenos Aires. Unidad de Investigación y Desarrollo de las Ingenierías; Argentina
dc.description.fil
Fil: Gak, Joel. Universidad Católica del Uruguay; Uruguay
dc.description.fil
Fil: Oliva, Alejandro Raul. Consejo Nacional de Investigaciones Científicas y Técnicas. Centro Científico Tecnológico Conicet - Bahía Blanca. Instituto de Investigaciones en Ingeniería Eléctrica "Alfredo Desages". Universidad Nacional del Sur. Departamento de Ingeniería Eléctrica y de Computadoras. Instituto de Investigaciones en Ingeniería Eléctrica "Alfredo Desages"; Argentina
dc.description.fil
Fil: Volpe, María Alicia. Consejo Nacional de Investigaciones Científicas y Técnicas. Centro Científico Tecnológico Conicet - Bahía Blanca. Planta Piloto de Ingeniería Química. Universidad Nacional del Sur. Planta Piloto de Ingeniería Química; Argentina
dc.description.fil
Fil: Julian, Pedro Marcelo. Consejo Nacional de Investigaciones Científicas y Técnicas. Centro Científico Tecnológico Conicet - Bahía Blanca. Instituto de Investigaciones en Ingeniería Eléctrica "Alfredo Desages". Universidad Nacional del Sur. Departamento de Ingeniería Eléctrica y de Computadoras. Instituto de Investigaciones en Ingeniería Eléctrica "Alfredo Desages"; Argentina
dc.description.fil
Fil: Palumbo, Felix Roberto Mario. Universidad Tecnológica Nacional. Facultad Regional Buenos Aires. Unidad de Investigación y Desarrollo de las Ingenierías; Argentina. Consejo Nacional de Investigaciones Científicas y Técnicas; Argentina
dc.journal.title
Frontiers in Electronics
dc.relation.alternativeid
info:eu-repo/semantics/altIdentifier/url/https://www.frontiersin.org/articles/10.3389/felec.2022.1060197/full
dc.relation.alternativeid
info:eu-repo/semantics/altIdentifier/doi/http://dx.doi.org/10.3389/felec.2022.1060197
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