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dc.contributor.author
Sanca, Gabriel Andrés  
dc.contributor.author
Barella, M.  
dc.contributor.author
Gomez Marlasca, Fernando  
dc.contributor.author
Alvarez, N.  
dc.contributor.author
Levy, Pablo Eduardo  
dc.contributor.author
Golmar, Federico  
dc.date.available
2024-02-28T12:01:20Z  
dc.date.issued
2023-02  
dc.identifier.citation
Sanca, Gabriel Andrés; Barella, M.; Gomez Marlasca, Fernando; Alvarez, N.; Levy, Pablo Eduardo; et al.; LabOSat-01: a payload for in-orbit device characterization; Institute of Electrical and Electronics Engineers; IEEE Embedded Systems Letters; 2-2023; 1-4  
dc.identifier.issn
1943-0663  
dc.identifier.uri
http://hdl.handle.net/11336/228724  
dc.description.abstract
LabOSat is an applied research group whose main objective is to increase the Technology Readiness Level of electronic devices and systems for their use in satellite missions. Since 2013 the Group has participated in 9 Low Earth Orbit missions in collaboration with Satellogic. Its flagship payload, LabOSat-01, is a Source-Measurement-Unit instrument dedicated to the electrical characterization of electronic devices. In this brief communication, results of in-orbit operation of LabOSat-01 are presented. A summary of the Group activities in the period 2013-2022 is also presented. These results represent almost 10 years of experience in 9 missions hosting different technologies in orbit.  
dc.format
application/pdf  
dc.language.iso
eng  
dc.publisher
Institute of Electrical and Electronics Engineers  
dc.rights
info:eu-repo/semantics/restrictedAccess  
dc.rights.uri
https://creativecommons.org/licenses/by-nc-sa/2.5/ar/  
dc.subject
SMALL SATELLITE  
dc.subject
SATELLITE PAYLOADS  
dc.subject
INSTRUMENTATION  
dc.subject
MICROELECTRONICS  
dc.subject.classification
Ingeniería Eléctrica y Electrónica  
dc.subject.classification
Ingeniería Eléctrica, Ingeniería Electrónica e Ingeniería de la Información  
dc.subject.classification
INGENIERÍAS Y TECNOLOGÍAS  
dc.title
LabOSat-01: a payload for in-orbit device characterization  
dc.type
info:eu-repo/semantics/article  
dc.type
info:ar-repo/semantics/artículo  
dc.type
info:eu-repo/semantics/publishedVersion  
dc.date.updated
2024-02-28T09:49:19Z  
dc.identifier.eissn
1943-0671  
dc.journal.pagination
1-4  
dc.journal.pais
Estados Unidos  
dc.description.fil
Fil: Sanca, Gabriel Andrés. Universidad Nacional de San Martín. Escuela de Ciencia y Tecnología; Argentina  
dc.description.fil
Fil: Barella, M.. Universite de Fribourg;  
dc.description.fil
Fil: Gomez Marlasca, Fernando. Comisión Nacional de Energía Atómica; Argentina  
dc.description.fil
Fil: Alvarez, N.. Universidad Nacional de San Martín. Escuela de Ciencia y Tecnología; Argentina  
dc.description.fil
Fil: Levy, Pablo Eduardo. Universidad Nacional de San Martín. Escuela de Ciencia y Tecnología; Argentina. Comisión Nacional de Energía Atómica; Argentina. Consejo Nacional de Investigaciones Científicas y Técnicas; Argentina  
dc.description.fil
Fil: Golmar, Federico. Universidad Nacional de San Martín. Escuela de Ciencia y Tecnología; Argentina. Consejo Nacional de Investigaciones Científicas y Técnicas. Instituto de Ciencias Físicas. - Universidad Nacional de San Martín. Instituto de Ciencias Físicas; Argentina  
dc.journal.title
IEEE Embedded Systems Letters  
dc.relation.alternativeid
info:eu-repo/semantics/altIdentifier/url/https://ieeexplore.ieee.org/document/10054124/  
dc.relation.alternativeid
info:eu-repo/semantics/altIdentifier/doi/http://dx.doi.org/10.1109/LES.2023.3249408