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dc.contributor.author
Fuertes, María Cecilia
dc.contributor.author
Palamarczuk, Valeria
dc.contributor.author
Lamas, Diego Germán
dc.contributor.author
Huck Iriart, Cristián
dc.date.available
2024-01-25T15:49:29Z
dc.date.issued
2023
dc.identifier.citation
Evaluación de patrimonio cultural utilizando difracción de rayos X en diferentes configuraciones; IV Congreso Argentino de Técnicas Neutrónicas; Buenos Aires; Argentina; 2023; 1-2
dc.identifier.uri
http://hdl.handle.net/11336/224890
dc.description.abstract
El uso de técnicas de caracterización no destructivas o mínimamente invasivas en la evaluación del patrimonio cultural es fundamental para obtener información sobre la composición de los objetos preservando su integridad. Entre ellas, la difracción de rayos X (DRX) permite determinar los compuestos cristalinos presentes en los objetos, empleando diversas configuraciones experimentales. La elección de la configuración más adecuada dependerá de las particularidades del objeto, como su forma, tamaño y la viabilidad de su traslado al laboratorio, así como la posibilidad de obtener micro-muestras a partir de los mismos [1,2]. En este trabajo se presenta la evaluación de pigmentos y piezas arqueológicas en tres configuraciones: DRX de pieza entera con geometría Bragg-Brentano, DRX de pieza entera con incidencia rasante, y micro-DRX de polvos. Se analizaron pigmentos superpuestos en fragmentos cerámicos de estilos San José y Santa María del valle de Yocavil, Catamarca, Argentina. Las dos primeras configuraciones se utilizaron para medir fragmentos con un equipo PANalytical, modelo Empyrean, con radiación CuKα, en geometría Bragg-Brentano o con incidencia fija a 1°, entre 5 y 60°2Ɵ. La micro-DRX de polvos se realizó con un equipo XEUSS 2.0 (XENOCS) con micro-fuente de Cu, acoplado a dos detectores bidimensionales sincrónicos Pilatus (Dectris), en geometría de haz paralelo con baja divergencia. Se registraron patrones entre 5 y 45º2Ɵ, por transmisión, de ca. 5-10 mg de pigmentos raspado de la superficie de los fragmentos con un bisturí.Se concluye que las tres configuraciones presentan aspectos positivos que deben ser considerados al momento de elegir la más adecuada según las características de cada muestra. La aplicación de la técnica in situ es posible en muestras que puedan transportarse al laboratorio y posean formas y tamaños adecuados para su medición. La configuración en geometría Bragg-Brentano informa las fases cristalinas presentes en las capas de pigmentos superficiales y en la pasta cerámica de manera conjunta, lo cual complejiza su interpretación. La incidencia fija a bajo ángulo es útil para evaluar capas de aplicaciones pigmentarias superficiales de manera independiente, pero las superficies irregulares o curvadas dificultan las mediciones. La micro-DRX, si bien es una técnica micro-destructiva, es útil para el estudio de piezas que no pueden trasladarse al laboratorio. Además, pueden evaluarse capas superficiales y pequeñas secciones de las piezas de manera independiente, simplificando la interpretación de los resultados.
dc.format
application/pdf
dc.language.iso
spa
dc.publisher
Comisión Nacional de Energía Atómica
dc.rights
info:eu-repo/semantics/openAccess
dc.rights.uri
https://creativecommons.org/licenses/by-nc-sa/2.5/ar/
dc.subject
DIFRACCIÓN DE RAYOS X
dc.subject
ENGOBES
dc.subject
PINTURAS
dc.subject
ESTUDIOS NO DESTRUCTIVOS
dc.subject.classification
Arqueología
dc.subject.classification
Historia y Arqueología
dc.subject.classification
HUMANIDADES
dc.subject.classification
Cerámicos
dc.subject.classification
Ingeniería de los Materiales
dc.subject.classification
INGENIERÍAS Y TECNOLOGÍAS
dc.title
Evaluación de patrimonio cultural utilizando difracción de rayos X en diferentes configuraciones
dc.type
info:eu-repo/semantics/publishedVersion
dc.type
info:eu-repo/semantics/conferenceObject
dc.type
info:ar-repo/semantics/documento de conferencia
dc.date.updated
2023-12-07T13:32:06Z
dc.journal.pagination
1-2
dc.journal.pais
Argentina
dc.journal.ciudad
Buenos Aires
dc.description.fil
Fil: Fuertes, María Cecilia. Consejo Nacional de Investigaciones Cientificas y Tecnicas. Oficina de Coordinacion Administrativa Ciudad Universitaria. Unidad Ejecutora Instituto de Nanociencia y Nanotecnologia. Unidad Ejecutora Instituto de Nanociencia y Nanotecnologia - Nodo Constituyentes | Comision Nacional de Energia Atomica. Unidad Ejecutora Instituto de Nanociencia y Nanotecnologia. Unidad Ejecutora Instituto de Nanociencia y Nanotecnologia - Nodo Constituyentes.; Argentina
dc.description.fil
Fil: Palamarczuk, Valeria. Consejo Nacional de Investigaciones Científicas y Técnicas. Oficina de Coordinación Administrativa Saavedra 15. Instituto de las Culturas. Universidad de Buenos Aires. Instituto de las Culturas; Argentina
dc.description.fil
Fil: Lamas, Diego Germán. Consejo Nacional de Investigaciones Cientificas y Tecnicas. Instituto de Tecnologias Emergentes y Ciencias Aplicadas. - Universidad Nacional de San Martin. Instituto de Tecnologias Emergentes y Ciencias Aplicadas.; Argentina
dc.description.fil
Fil: Huck Iriart, Cristián. Consejo Nacional de Investigaciones Cientificas y Tecnicas. Instituto de Tecnologias Emergentes y Ciencias Aplicadas. - Universidad Nacional de San Martin. Instituto de Tecnologias Emergentes y Ciencias Aplicadas.; Argentina
dc.relation.alternativeid
info:eu-repo/semantics/altIdentifier/url/https://tn-2023.sciencesconf.org/
dc.relation.alternativeid
info:eu-repo/semantics/altIdentifier/url/https://tn-2023.sciencesconf.org/data/pages/Libro_de_Resumenes_TN2023_cuerpo.pdf
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Autor
dc.conicet.rol
Autor
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Autor
dc.conicet.rol
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Nacional
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Congreso
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IV Congreso Argentino de Técnicas Neutrónicas
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2023-11-13
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Buenos Aires
dc.description.paisEvento
Argentina
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Book
dc.description.institucionOrganizadora
Comisión Nacional de Energía Atómica
dc.description.institucionOrganizadora
Universidad de Buenos Aires. Facultad de Ciencias Exactas y Naturales
dc.source.libro
IV Congreso Argentino de Técnicas Neutrónicas
dc.date.eventoHasta
2023-11-14
dc.type
Congreso
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