Mostrar el registro sencillo del ítem
dc.contributor.author
Vadnjal, Ana Laura
dc.contributor.author
Etchepareborda, Pablo Gonzalo
dc.contributor.author
Federico, Roque Alejandro
dc.contributor.author
Kaufmann, Guillermo Hector
dc.date.available
2017-07-31T20:45:16Z
dc.date.issued
2013-03
dc.identifier.citation
Vadnjal, Ana Laura; Etchepareborda, Pablo Gonzalo; Federico, Roque Alejandro; Kaufmann, Guillermo Hector; Measurement of in-plane displacements using the phase singularities generated by directional wavelet transforms of speckle pattern images; Optical Society of America; Applied Optics; 52; 9; 3-2013; 1805-1813
dc.identifier.issn
0003-6935
dc.identifier.uri
http://hdl.handle.net/11336/21642
dc.description.abstract
We present a method to determine micro and nano in-plane displacements based on the phase singularities generated by application of directional wavelet transforms to speckle pattern images. The spatial distribution of the obtained phase singularities by the wavelet transform configures a network, which is characterized by two quasi-orthogonal directions. The displacement value is determined by identifying the intersection points of the network before and after the displacement produced by the tested object. The performance of this method is evaluated using simulated speckle patterns and experimental data. The proposed approach is compared with the optical vortex metrology and digital image correlation methods in terms of performance and noise robustness, and the advantages and limitations associated to each method are also discussed.
dc.format
application/pdf
dc.language.iso
eng
dc.publisher
Optical Society of America
dc.rights
info:eu-repo/semantics/openAccess
dc.rights.uri
https://creativecommons.org/licenses/by-nc-sa/2.5/ar/
dc.subject
Speckle
dc.subject
Vortex
dc.subject
Wavelet
dc.subject
Displacement in Plane
dc.subject.classification
Otras Ingeniería Eléctrica, Ingeniería Electrónica e Ingeniería de la Información
dc.subject.classification
Ingeniería Eléctrica, Ingeniería Electrónica e Ingeniería de la Información
dc.subject.classification
INGENIERÍAS Y TECNOLOGÍAS
dc.title
Measurement of in-plane displacements using the phase singularities generated by directional wavelet transforms of speckle pattern images
dc.type
info:eu-repo/semantics/article
dc.type
info:ar-repo/semantics/artículo
dc.type
info:eu-repo/semantics/publishedVersion
dc.date.updated
2017-07-28T18:03:30Z
dc.journal.volume
52
dc.journal.number
9
dc.journal.pagination
1805-1813
dc.journal.pais
Estados Unidos
dc.journal.ciudad
Washington DC
dc.description.fil
Fil: Vadnjal, Ana Laura. Instituto Nacional de Tecnología Industrial; Argentina. Consejo Nacional de Investigaciones Científicas y Técnicas; Argentina
dc.description.fil
Fil: Etchepareborda, Pablo Gonzalo. Instituto Nacional de Tecnología Industrial; Argentina. Consejo Nacional de Investigaciones Científicas y Técnicas; Argentina
dc.description.fil
Fil: Federico, Roque Alejandro. Instituto Nacional de Tecnología Industrial; Argentina. Consejo Nacional de Investigaciones Científicas y Técnicas; Argentina
dc.description.fil
Fil: Kaufmann, Guillermo Hector. Consejo Nacional de Investigaciones Científicas y Técnicas. Centro Científico Tecnológico Conicet - Rosario. Centro Internacional Franco Argentino de Ciencias de la Información y de Sistemas. Universidad Nacional de Rosario. Centro Internacional Franco Argentino de Ciencias de la Información y de Sistemas; Argentina. Consejo Nacional de Investigaciones Científicas y Técnicas. Centro Científico Tecnológico Conicet - Rosario. Instituto de Física de Rosario. Universidad Nacional de Rosario. Instituto de Física de Rosario; Argentina
dc.journal.title
Applied Optics
dc.relation.alternativeid
info:eu-repo/semantics/altIdentifier/doi/http://dx.doi.org/10.1364/AO.52.001805
dc.relation.alternativeid
info:eu-repo/semantics/altIdentifier/url/https://www.osapublishing.org/ao/abstract.cfm?uri=ao-52-9-1805
Archivos asociados