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dc.contributor.author
Vaz, Isabela C. F.
dc.contributor.author
Macchi, Carlos Eugenio
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dc.contributor.author
Somoza, Alberto Horacio
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dc.contributor.author
Rocha, Leandro S. R.
dc.contributor.author
Longo, Elson
dc.contributor.author
Cabral, Luis
dc.contributor.author
da Silva, Edison Z.
dc.contributor.author
Simões, Alexandre Zirpoli
dc.contributor.author
Zonta, Giulia
dc.contributor.author
Malagu, Cesare
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dc.contributor.author
Desimone, Paula Mariela
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dc.contributor.author
Ponce, Miguel Adolfo
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dc.contributor.author
Moura, Francisco
dc.date.available
2023-09-29T13:04:25Z
dc.date.issued
2022-05
dc.identifier.citation
Vaz, Isabela C. F.; Macchi, Carlos Eugenio; Somoza, Alberto Horacio; Rocha, Leandro S. R.; Longo, Elson; et al.; Electrical transport mechanisms of Neodymium-doped rare-earth semiconductors; Springer; Journal of Materials Science: Materials in Electronics; 33; 15; 5-2022; 11632-11649
dc.identifier.issn
0957-4522
dc.identifier.uri
http://hdl.handle.net/11336/213563
dc.description.abstract
This study reports the electrical properties of Nd-doped cerium oxide (CeO2) films synthesized by microwave assisted hydrothermal using a two-point probe technique. Positron annihilation lifetime spectroscopy studies evidenced that, as the Nd content rises, a structural disorder occurs. This is caused by an increase in oxygen vacancies surrounded with Nd (defective clusters), with the mean lifetime components ranging between 290 and 300 ps. Particle size estimation showed values from 8.6 to 28.9 nm. Along with the increase of neodymium impurities, also the conductivity increases, due to the hopping conduction mechanism between defective species. This gives rise to a response time of only 6 s, turning these materials candidates to realize gas sensor devices. Ab initio investigations showed that the improved electric conduction is boosted mostly by the reduced Nd2+ than the Ce3+, where the oxygen vacancies play a fundamental role.
dc.format
application/pdf
dc.language.iso
eng
dc.publisher
Springer
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dc.rights
info:eu-repo/semantics/openAccess
dc.rights.uri
https://creativecommons.org/licenses/by-nc-sa/2.5/ar/
dc.subject
Nd-doped cerium oxide
dc.subject
Positron annihilation lifetime spectroscopy
dc.subject
Density functional theory
dc.subject
Microwave-assisted hydrothermal
dc.subject.classification
Nano-materiales
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dc.subject.classification
Nanotecnología
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dc.subject.classification
INGENIERÍAS Y TECNOLOGÍAS
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dc.title
Electrical transport mechanisms of Neodymium-doped rare-earth semiconductors
dc.type
info:eu-repo/semantics/article
dc.type
info:ar-repo/semantics/artículo
dc.type
info:eu-repo/semantics/publishedVersion
dc.date.updated
2023-07-07T21:53:23Z
dc.journal.volume
33
dc.journal.number
15
dc.journal.pagination
11632-11649
dc.journal.pais
Alemania
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dc.description.fil
Fil: Vaz, Isabela C. F.. Federal University of Itajubá; Brasil
dc.description.fil
Fil: Macchi, Carlos Eugenio. Universidad Nacional del Centro de la Provincia de Buenos Aires; Argentina. Provincia de Buenos Aires. Gobernación. Comisión de Investigaciones Científicas; Argentina. Consejo Nacional de Investigaciones Científicas y Técnicas; Argentina
dc.description.fil
Fil: Somoza, Alberto Horacio. Universidad Nacional del Centro de la Provincia de Buenos Aires; Argentina. Provincia de Buenos Aires. Gobernación. Comisión de Investigaciones Científicas; Argentina. Consejo Nacional de Investigaciones Científicas y Técnicas; Argentina
dc.description.fil
Fil: Rocha, Leandro S. R.. Universidade Federal do São Carlos; Brasil
dc.description.fil
Fil: Longo, Elson. Universidade Federal do São Carlos; Brasil
dc.description.fil
Fil: Cabral, Luis. Universidade Estadual de Campinas; Brasil
dc.description.fil
Fil: da Silva, Edison Z.. Universidade Estadual de Campinas; Brasil
dc.description.fil
Fil: Simões, Alexandre Zirpoli. Universidade Estadual Paulista Julio de Mesquita Filho; Brasil
dc.description.fil
Fil: Zonta, Giulia. Università di Ferrara; Italia
dc.description.fil
Fil: Malagu, Cesare. Università di Ferrara; Italia
dc.description.fil
Fil: Desimone, Paula Mariela. Universidad Nacional de Mar del Plata; Argentina. Consejo Nacional de Investigaciones Científicas y Técnicas. Centro Científico Tecnológico Conicet - Mar del Plata. Instituto de Investigaciones en Ciencia y Tecnología de Materiales. Universidad Nacional de Mar del Plata. Facultad de Ingeniería. Instituto de Investigaciones en Ciencia y Tecnología de Materiales; Argentina
dc.description.fil
Fil: Ponce, Miguel Adolfo. Consejo Nacional de Investigaciones Científicas y Técnicas. Centro Científico Tecnológico Conicet - Mar del Plata. Instituto de Investigaciones en Ciencia y Tecnología de Materiales. Universidad Nacional de Mar del Plata. Facultad de Ingeniería. Instituto de Investigaciones en Ciencia y Tecnología de Materiales; Argentina. Universidad Nacional de Mar del Plata; Argentina
dc.description.fil
Fil: Moura, Francisco. Federal University of Itajubá; Brasil
dc.journal.title
Journal of Materials Science: Materials in Electronics
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dc.relation.alternativeid
info:eu-repo/semantics/altIdentifier/doi/http://dx.doi.org/10.1007/s10854-022-08098-9
dc.relation.alternativeid
info:eu-repo/semantics/altIdentifier/url/https://link.springer.com/article/10.1007/s10854-022-08098-9
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