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dc.contributor.author
Lapi, Agustín Javier  
dc.contributor.author
Chierchie, Fernando  
dc.contributor.author
Fernández Moroni, Guillermo  
dc.date.available
2023-07-17T14:22:46Z  
dc.date.issued
2021  
dc.identifier.citation
Gain calibration and nonlinearity analysis in single photon sensitivity Skipper CCD; Reunión de Trabajo en Procesamiento de la Información y Control (RPIC 2021); San Juan; Argentina; 2021; 1-6  
dc.identifier.isbn
978-1-6654-1436-4  
dc.identifier.uri
http://hdl.handle.net/11336/204155  
dc.description.abstract
The Skipper CCD allows pixel measurements with sub-electron noise levels. The gain of the CCD, that relates the number of electrons to the number of analog to digital units (ADU) is almost linear but with some degree of nonlinearity.This article uses the charge quantization allowed by the SkipperCCD to estimate the gain with different strategies. Linear and quadratic models are analyzed and differential and integral nonlinearity (DNL and INL) metrics are computed. Experimental results in a range of charge between 0 and 700 electrons shows that the linear model achieves an INL of 0.8e−, while the second order model reaches an INL of 0.09e−.  
dc.format
application/pdf  
dc.language.iso
eng  
dc.publisher
Consejo Nacional de Investigaciones Científicas y Técnicas. Centro Científico Tecnológico Conicet - San Juan. Instituto de Automática. Universidad Nacional de San Juan. Facultad de Ingeniería. Instituto de Automática  
dc.rights
info:eu-repo/semantics/restrictedAccess  
dc.rights.uri
https://creativecommons.org/licenses/by-nc-sa/2.5/ar/  
dc.subject
Skipper CCD  
dc.subject
gain calibration  
dc.subject
non-linearity analysis  
dc.subject
single photon  
dc.subject.classification
Ingeniería Eléctrica y Electrónica  
dc.subject.classification
Ingeniería Eléctrica, Ingeniería Electrónica e Ingeniería de la Información  
dc.subject.classification
INGENIERÍAS Y TECNOLOGÍAS  
dc.title
Gain calibration and nonlinearity analysis in single photon sensitivity Skipper CCD  
dc.type
info:eu-repo/semantics/publishedVersion  
dc.type
info:eu-repo/semantics/conferenceObject  
dc.type
info:ar-repo/semantics/documento de conferencia  
dc.date.updated
2022-11-09T15:29:17Z  
dc.journal.pagination
1-6  
dc.journal.pais
Argentina  
dc.journal.ciudad
San Juan  
dc.description.fil
Fil: Lapi, Agustín Javier. Consejo Nacional de Investigaciones Científicas y Técnicas. Centro Científico Tecnológico Conicet - Bahía Blanca. Instituto de Investigaciones en Ingeniería Eléctrica "Alfredo Desages". Universidad Nacional del Sur. Departamento de Ingeniería Eléctrica y de Computadoras. Instituto de Investigaciones en Ingeniería Eléctrica "Alfredo Desages"; Argentina  
dc.description.fil
Fil: Chierchie, Fernando. Consejo Nacional de Investigaciones Científicas y Técnicas. Centro Científico Tecnológico Conicet - Bahía Blanca. Instituto de Investigaciones en Ingeniería Eléctrica "Alfredo Desages". Universidad Nacional del Sur. Departamento de Ingeniería Eléctrica y de Computadoras. Instituto de Investigaciones en Ingeniería Eléctrica "Alfredo Desages"; Argentina  
dc.description.fil
Fil: Fernández Moroni, Guillermo. Fermi National Accelerator Laboratory; Estados Unidos. Consejo Nacional de Investigaciones Científicas y Técnicas; Argentina  
dc.relation.alternativeid
info:eu-repo/semantics/altIdentifier/url/https://ieeexplore.ieee.org/document/9648497  
dc.relation.alternativeid
info:eu-repo/semantics/altIdentifier/doi/http://dx.doi.org/10.1109/RPIC53795.2021.9648497  
dc.conicet.rol
Autor  
dc.conicet.rol
Autor  
dc.conicet.rol
Autor  
dc.coverage
Nacional  
dc.type.subtype
Congreso  
dc.description.nombreEvento
Reunión de Trabajo en Procesamiento de la Información y Control (RPIC 2021)  
dc.date.evento
2021-11-03  
dc.description.ciudadEvento
San Juan  
dc.description.paisEvento
Argentina  
dc.type.publicacion
Book  
dc.description.institucionOrganizadora
Consejo Nacional de Investigaciones Científicas y Técnicas. Centro Científico Tecnológico Conicet - San Juan. Instituto de Automática. Universidad Nacional de San Juan. Facultad de Ingeniería. Instituto de Automática  
dc.source.libro
XIX Edición de la Reunión de Trabajo en Procesamiento de la Información y Control (RPIC 2021)  
dc.date.eventoHasta
2021-11-05  
dc.type
Congreso