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dc.contributor.author
Lapi, Agustín Javier
dc.contributor.author
Chierchie, Fernando
dc.contributor.author
Fernández Moroni, Guillermo
dc.date.available
2023-07-17T14:22:46Z
dc.date.issued
2021
dc.identifier.citation
Gain calibration and nonlinearity analysis in single photon sensitivity Skipper CCD; Reunión de Trabajo en Procesamiento de la Información y Control (RPIC 2021); San Juan; Argentina; 2021; 1-6
dc.identifier.isbn
978-1-6654-1436-4
dc.identifier.uri
http://hdl.handle.net/11336/204155
dc.description.abstract
The Skipper CCD allows pixel measurements with sub-electron noise levels. The gain of the CCD, that relates the number of electrons to the number of analog to digital units (ADU) is almost linear but with some degree of nonlinearity.This article uses the charge quantization allowed by the SkipperCCD to estimate the gain with different strategies. Linear and quadratic models are analyzed and differential and integral nonlinearity (DNL and INL) metrics are computed. Experimental results in a range of charge between 0 and 700 electrons shows that the linear model achieves an INL of 0.8e−, while the second order model reaches an INL of 0.09e−.
dc.format
application/pdf
dc.language.iso
eng
dc.publisher
Consejo Nacional de Investigaciones Científicas y Técnicas. Centro Científico Tecnológico Conicet - San Juan. Instituto de Automática. Universidad Nacional de San Juan. Facultad de Ingeniería. Instituto de Automática
dc.rights
info:eu-repo/semantics/restrictedAccess
dc.rights.uri
https://creativecommons.org/licenses/by-nc-sa/2.5/ar/
dc.subject
Skipper CCD
dc.subject
gain calibration
dc.subject
non-linearity analysis
dc.subject
single photon
dc.subject.classification
Ingeniería Eléctrica y Electrónica
dc.subject.classification
Ingeniería Eléctrica, Ingeniería Electrónica e Ingeniería de la Información
dc.subject.classification
INGENIERÍAS Y TECNOLOGÍAS
dc.title
Gain calibration and nonlinearity analysis in single photon sensitivity Skipper CCD
dc.type
info:eu-repo/semantics/publishedVersion
dc.type
info:eu-repo/semantics/conferenceObject
dc.type
info:ar-repo/semantics/documento de conferencia
dc.date.updated
2022-11-09T15:29:17Z
dc.journal.pagination
1-6
dc.journal.pais
Argentina
dc.journal.ciudad
San Juan
dc.description.fil
Fil: Lapi, Agustín Javier. Consejo Nacional de Investigaciones Científicas y Técnicas. Centro Científico Tecnológico Conicet - Bahía Blanca. Instituto de Investigaciones en Ingeniería Eléctrica "Alfredo Desages". Universidad Nacional del Sur. Departamento de Ingeniería Eléctrica y de Computadoras. Instituto de Investigaciones en Ingeniería Eléctrica "Alfredo Desages"; Argentina
dc.description.fil
Fil: Chierchie, Fernando. Consejo Nacional de Investigaciones Científicas y Técnicas. Centro Científico Tecnológico Conicet - Bahía Blanca. Instituto de Investigaciones en Ingeniería Eléctrica "Alfredo Desages". Universidad Nacional del Sur. Departamento de Ingeniería Eléctrica y de Computadoras. Instituto de Investigaciones en Ingeniería Eléctrica "Alfredo Desages"; Argentina
dc.description.fil
Fil: Fernández Moroni, Guillermo. Fermi National Accelerator Laboratory; Estados Unidos. Consejo Nacional de Investigaciones Científicas y Técnicas; Argentina
dc.relation.alternativeid
info:eu-repo/semantics/altIdentifier/url/https://ieeexplore.ieee.org/document/9648497
dc.relation.alternativeid
info:eu-repo/semantics/altIdentifier/doi/http://dx.doi.org/10.1109/RPIC53795.2021.9648497
dc.conicet.rol
Autor
dc.conicet.rol
Autor
dc.conicet.rol
Autor
dc.coverage
Nacional
dc.type.subtype
Congreso
dc.description.nombreEvento
Reunión de Trabajo en Procesamiento de la Información y Control (RPIC 2021)
dc.date.evento
2021-11-03
dc.description.ciudadEvento
San Juan
dc.description.paisEvento
Argentina
dc.type.publicacion
Book
dc.description.institucionOrganizadora
Consejo Nacional de Investigaciones Científicas y Técnicas. Centro Científico Tecnológico Conicet - San Juan. Instituto de Automática. Universidad Nacional de San Juan. Facultad de Ingeniería. Instituto de Automática
dc.source.libro
XIX Edición de la Reunión de Trabajo en Procesamiento de la Información y Control (RPIC 2021)
dc.date.eventoHasta
2021-11-05
dc.type
Congreso
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