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dc.contributor.author
Aguirre, Fernando
dc.contributor.author
Julian, Pedro Marcelo
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dc.contributor.author
Palumbo, Felix
dc.date.available
2023-07-17T11:56:33Z
dc.date.issued
2021
dc.identifier.citation
Piecewise-linear modelling of CMOS gates propagation delay as a function of PVT variations and aging; 2021 Argentine Conference on Electronics; Argentina; 2021; 25-31
dc.identifier.isbn
978-1-7281-7579-9
dc.identifier.uri
http://hdl.handle.net/11336/204073
dc.description.abstract
Due to the aggressive scaling of transistor dimen- sions, which took place in the last decades, chip devices are exposed to high electric fields and current densities during normal operation. These working conditions trigger degradation phenomena that compromises the device functionality and rises questions regarding circuit reliability. In this paper we present a simulation based methodology that incorporates the aging phenomena, which might allow to address the reliability aspects during the design phase and pave the way for further life-time projections at the design stage. Piecewise-linear functions are used to model the propagation delays and estimate the correlation between the different degradation mechanisms and the PVT variations.
dc.format
application/pdf
dc.language.iso
eng
dc.publisher
Institute of Electrical and Electronics Engineers
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dc.rights
info:eu-repo/semantics/restrictedAccess
dc.rights.uri
https://creativecommons.org/licenses/by-nc-sa/2.5/ar/
dc.subject
propagation delay
dc.subject
PVT
dc.subject
aging
dc.subject
modelling
dc.subject.classification
Ingeniería Eléctrica y Electrónica
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dc.subject.classification
Ingeniería Eléctrica, Ingeniería Electrónica e Ingeniería de la Información
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dc.subject.classification
INGENIERÍAS Y TECNOLOGÍAS
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dc.title
Piecewise-linear modelling of CMOS gates propagation delay as a function of PVT variations and aging
dc.type
info:eu-repo/semantics/publishedVersion
dc.type
info:eu-repo/semantics/conferenceObject
dc.type
info:ar-repo/semantics/documento de conferencia
dc.date.updated
2022-11-09T15:30:51Z
dc.journal.pagination
25-31
dc.journal.pais
Estados Unidos
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dc.journal.ciudad
New Jersey
dc.description.fil
Fil: Aguirre, Fernando. Universitat Autònoma de Barcelona; España. Universidad Tecnológica Nacional; Argentina
dc.description.fil
Fil: Julian, Pedro Marcelo. Consejo Nacional de Investigaciones Científicas y Técnicas. Centro Científico Tecnológico Conicet - Bahía Blanca. Instituto de Investigaciones en Ingeniería Eléctrica "Alfredo Desages". Universidad Nacional del Sur. Departamento de Ingeniería Eléctrica y de Computadoras. Instituto de Investigaciones en Ingeniería Eléctrica "Alfredo Desages"; Argentina
dc.description.fil
Fil: Palumbo, Felix. Universidad Tecnológica Nacional; Argentina
dc.relation.alternativeid
info:eu-repo/semantics/altIdentifier/url/https://ieeexplore.ieee.org/document/9397560/
dc.relation.alternativeid
info:eu-repo/semantics/altIdentifier/url/https://doi.org/10.1109/CAE51562.2021.9397560
dc.conicet.rol
Autor
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dc.conicet.rol
Autor
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dc.coverage
Nacional
dc.type.subtype
Congreso
dc.description.nombreEvento
2021 Argentine Conference on Electronics
dc.date.evento
2021-03-11
dc.description.paisEvento
Argentina
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dc.type.publicacion
Book
dc.description.institucionOrganizadora
International Symposium on Circuits and Systems
dc.source.libro
2021 Argentine Conference on Electronics
dc.date.eventoHasta
2021-03-12
dc.type
Congreso
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