Mostrar el registro sencillo del ítem
dc.contributor.author
Faigon, Adrián Néstor
dc.contributor.author
Martinez Vazquez, Ignacio José
dc.contributor.author
Carbonetto, Sebastián Horacio
dc.contributor.author
García Inza, Mariano Andrés
dc.date.available
2017-07-11T21:17:50Z
dc.date.issued
2017-03
dc.identifier.citation
Faigon, Adrián Néstor; Martinez Vazquez, Ignacio José; Carbonetto, Sebastián Horacio; García Inza, Mariano Andrés; Floating Gate sensor for in-vivo dosimetry in radiation therapies: design and first characterization; IOP Publishing; Journal of Physics: Conference Series; 792; 1; 3-2017; 1-7
dc.identifier.issn
1742-6588
dc.identifier.uri
http://hdl.handle.net/11336/20189
dc.description.abstract
A floating gate dosimeter was designed and fabricated in a standard CMOS technology. The design guides and characterization are presented. The characterization included the controlled charging by tunneling of the floating gate, and its discharging under irradiation while measuring the transistor drain current whose change is the measure of the absorbed dose. The resolution of the obtained device is close to 1 cGy satisfying the requirements for most radiation therapies dosimetry. Pending statistical proofs, the dosimeter is a potential candidate for wide in-vivo control of radiotherapy treatments.
dc.format
application/pdf
dc.language.iso
eng
dc.publisher
IOP Publishing
dc.rights
info:eu-repo/semantics/openAccess
dc.rights.uri
https://creativecommons.org/licenses/by/2.5/ar/
dc.subject
Mos Dosimeter
dc.subject
Floating Gate
dc.subject
Radiation Effects
dc.subject.classification
Otras Ciencias Físicas
dc.subject.classification
Ciencias Físicas
dc.subject.classification
CIENCIAS NATURALES Y EXACTAS
dc.title
Floating Gate sensor for in-vivo dosimetry in radiation therapies: design and first characterization
dc.type
info:eu-repo/semantics/article
dc.type
info:ar-repo/semantics/artículo
dc.type
info:eu-repo/semantics/publishedVersion
dc.date.updated
2017-07-10T14:54:11Z
dc.journal.volume
792
dc.journal.number
1
dc.journal.pagination
1-7
dc.journal.pais
Reino Unido
dc.journal.ciudad
Bristol
dc.description.fil
Fil: Faigon, Adrián Néstor. Universidad de Buenos Aires. Facultad de Ingeniería. Departamento de Física. Laboratorio de Física de Dispositivos Microelectrónica; Argentina. Consejo Nacional de Investigaciones Científicas y Técnicas; Argentina
dc.description.fil
Fil: Martinez Vazquez, Ignacio José. Universidad de Buenos Aires. Facultad de Ingeniería. Departamento de Física. Laboratorio de Física de Dispositivos Microelectrónica; Argentina
dc.description.fil
Fil: Carbonetto, Sebastián Horacio. Universidad de Buenos Aires. Facultad de Ingeniería. Departamento de Física. Laboratorio de Física de Dispositivos Microelectrónica; Argentina. Consejo Nacional de Investigaciones Científicas y Técnicas; Argentina
dc.description.fil
Fil: García Inza, Mariano Andrés. Universidad de Buenos Aires. Facultad de Ingeniería. Departamento de Física. Laboratorio de Física de Dispositivos Microelectrónica; Argentina. Consejo Nacional de Investigaciones Científicas y Técnicas; Argentina
dc.journal.title
Journal of Physics: Conference Series
dc.relation.alternativeid
info:eu-repo/semantics/altIdentifier/doi/http://dx.doi.org/10.1088/1742-6596/792/1/012057
dc.relation.alternativeid
info:eu-repo/semantics/altIdentifier/url/http://iopscience.iop.org/article/10.1088/1742-6596/792/1/012057
Archivos asociados