Mostrar el registro sencillo del ítem
dc.contributor.author
Lisiansky, Michael
dc.contributor.author
Cassuto, Gil
dc.contributor.author
Roizin, Yakov
dc.contributor.author
Corso, Domenico
dc.contributor.author
Libertino, Sebania
dc.contributor.author
Marino, Antonio
dc.contributor.author
Lombardo, Salvatore A.
dc.contributor.author
Crupi, Isodiana
dc.contributor.author
Pace, Calogero
dc.contributor.author
Crupi, Felice
dc.contributor.author
Fuks, David
![Se ha confirmado la validez de este valor de autoridad por un usuario](/themes/CONICETDigital/images/authority_control/invisible.gif)
dc.contributor.author
Kiv, Arik
dc.contributor.author
Della Sala, Ernesto
dc.contributor.author
Capuano, Giuseppe
dc.contributor.author
Palumbo, Félix Roberto Mario
![Se ha confirmado la validez de este valor de autoridad por un usuario](/themes/CONICETDigital/images/authority_control/invisible.gif)
dc.date.available
2023-03-14T16:58:49Z
dc.date.issued
2010-08
dc.identifier.citation
Lisiansky, Michael; Cassuto, Gil; Roizin, Yakov; Corso, Domenico; Libertino, Sebania; et al.; Radiation tolerance of NROM embedded products; Institute of Electrical and Electronics Engineers; Ieee Transactions on Nuclear Science; 57; 4 PART 2; 8-2010; 2309-2317
dc.identifier.issn
0018-9499
dc.identifier.uri
http://hdl.handle.net/11336/190519
dc.description.abstract
Radiation tolerance of NROM memories is demonstrated at the level of industrial 4 Mbit memory embedded modules, specifically not designed for operation in radiation harsh environments. The memory fabricated in 0.18 um technology remains fully functional after total ionization doses exceeding 100 krad. The tests were performed by irradiating with γ-rays (60Co source) and 10 MeV 11B ions in active (during programming/erase and read-out) and passive (no bias) modes. Comprehensive statistics were obtained by using large memory arrays and comparison of the data with the parameters of irradiated single cells allowed deep understanding of the physical phenomena in the irradiated NROM devices for both moderate (< 1 Mrad) and large (> 1 Mrad) TID. The obtained data is currently employed in the design of the new generation of NROM memories, having improved radiation tolerance.
dc.format
application/pdf
dc.language.iso
eng
dc.publisher
Institute of Electrical and Electronics Engineers
![Se ha confirmado la validez de este valor de autoridad por un usuario](/themes/CONICETDigital/images/authority_control/invisible.gif)
dc.rights
info:eu-repo/semantics/openAccess
dc.rights.uri
https://creativecommons.org/licenses/by-nc-sa/2.5/ar/
dc.subject
FLOATING GATE MEMORIES
dc.subject
ONO
dc.subject
RADIATION EFFECTS
dc.subject
RADIATION HARDENING
dc.subject.classification
Otras Nanotecnología
![Se ha confirmado la validez de este valor de autoridad por un usuario](/themes/CONICETDigital/images/authority_control/invisible.gif)
dc.subject.classification
Nanotecnología
![Se ha confirmado la validez de este valor de autoridad por un usuario](/themes/CONICETDigital/images/authority_control/invisible.gif)
dc.subject.classification
INGENIERÍAS Y TECNOLOGÍAS
![Se ha confirmado la validez de este valor de autoridad por un usuario](/themes/CONICETDigital/images/authority_control/invisible.gif)
dc.title
Radiation tolerance of NROM embedded products
dc.type
info:eu-repo/semantics/article
dc.type
info:ar-repo/semantics/artículo
dc.type
info:eu-repo/semantics/publishedVersion
dc.date.updated
2023-03-08T13:04:13Z
dc.journal.volume
57
dc.journal.number
4 PART 2
dc.journal.pagination
2309-2317
dc.journal.pais
Estados Unidos
![Se ha confirmado la validez de este valor de autoridad por un usuario](/themes/CONICETDigital/images/authority_control/invisible.gif)
dc.description.fil
Fil: Lisiansky, Michael. No especifíca;
dc.description.fil
Fil: Cassuto, Gil. No especifíca;
dc.description.fil
Fil: Roizin, Yakov. No especifíca;
dc.description.fil
Fil: Corso, Domenico. No especifíca;
dc.description.fil
Fil: Libertino, Sebania. No especifíca;
dc.description.fil
Fil: Marino, Antonio. No especifíca;
dc.description.fil
Fil: Lombardo, Salvatore A.. No especifíca;
dc.description.fil
Fil: Crupi, Isodiana. Consiglio Nazionale delle Ricerche; Italia
dc.description.fil
Fil: Pace, Calogero. Università della Calabria; Italia
dc.description.fil
Fil: Crupi, Felice. Università della Calabria; Italia
dc.description.fil
Fil: Fuks, David. Ben Gurion University of the Negev; Israel
dc.description.fil
Fil: Kiv, Arik. No especifíca;
dc.description.fil
Fil: Della Sala, Ernesto. No especifíca;
dc.description.fil
Fil: Capuano, Giuseppe. No especifíca;
dc.description.fil
Fil: Palumbo, Félix Roberto Mario. Comisión Nacional de Energía Atómica; Argentina. Comisión Nacional de Energía Atómica; Argentina
dc.journal.title
Ieee Transactions on Nuclear Science
![Se ha confirmado la validez de este valor de autoridad por un usuario](/themes/CONICETDigital/images/authority_control/invisible.gif)
dc.relation.alternativeid
info:eu-repo/semantics/altIdentifier/url/https://ieeexplore.ieee.org/document/5550444
dc.relation.alternativeid
info:eu-repo/semantics/altIdentifier/doi/http://dx.doi.org/10.1109/TNS.2010.2052286
Archivos asociados