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dc.contributor.author
Gimenez, Rocío
dc.contributor.author
Delgado, Diana C.
dc.contributor.author
Palumbo, Felix Roberto Mario
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dc.contributor.author
Berli, Claudio L. A.
dc.contributor.author
Bellino, Martín G.
dc.date.available
2017-06-26T19:57:51Z
dc.date.issued
2017-04-20
dc.identifier.citation
Gimenez, Rocío; Delgado, Diana C.; Palumbo, Felix Roberto Mario; Berli, Claudio L. A.; Bellino, Martín G.; Mesoporous metal-oxide-semiconductor capacitors detect intra-porous fluid changes; Elsevier Science; Colloids and Surfaces A: Physicochemical and Engineering Aspects; 524; 20-4-2017; 66-70
dc.identifier.issn
0927-7757
dc.identifier.uri
http://hdl.handle.net/11336/18911
dc.description.abstract
Real-time measurements of fluidic phenomena inside nano/mesoporous films offer an alternative way to study fundamental processes, as well as to explore novel applications. Most current techniques use optical measurement methods or microgravimetric approaches. Here it is shown that a metal-oxide-semiconductor(MOS) capacitor can be used to detect fluidic transport inside mesoporous networks. The MOS stack, which consists of two contacts (Cu and silicon) separated by a supramolecularly templated mesoporous oxide film to form a MOS capacitor, detects fluid changes that can be quantified from an effective permittivity model ofmesoporous structures interacting with a fluid. The device was used to monitor liquids infiltration and subsequent evaporation in both titania and silica mesoporous films. It was observed how the evaporation dynamics significantly depends on film characteristics and fluid properties.
dc.format
application/pdf
dc.language.iso
eng
dc.publisher
Elsevier Science
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dc.rights
info:eu-repo/semantics/openAccess
dc.rights.uri
https://creativecommons.org/licenses/by-nc-sa/2.5/ar/
dc.subject
Mesoporous Dielectrics
dc.subject
Mos
dc.subject
Fluidic Transport
dc.subject.classification
Física de los Materiales Condensados
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dc.subject.classification
Ciencias Físicas
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dc.subject.classification
CIENCIAS NATURALES Y EXACTAS
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dc.title
Mesoporous metal-oxide-semiconductor capacitors detect intra-porous fluid changes
dc.type
info:eu-repo/semantics/article
dc.type
info:ar-repo/semantics/artículo
dc.type
info:eu-repo/semantics/publishedVersion
dc.date.updated
2017-06-21T16:50:41Z
dc.journal.volume
524
dc.journal.pagination
66-70
dc.journal.pais
Países Bajos
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dc.description.fil
Fil: Gimenez, Rocío. Comision Nacional de Energía Atómica; Argentina
dc.description.fil
Fil: Delgado, Diana C.. Comision Nacional de Energía Atómica; Argentina
dc.description.fil
Fil: Palumbo, Felix Roberto Mario. Consejo Nacional de Investigaciones Científicas y Técnicas; Argentina. Universidad Tecnologica Nacional; Argentina
dc.description.fil
Fil: Berli, Claudio L. A.. Consejo Nacional de Investigaciones Científicas y Técnicas. Centro Científico Tecnológico Conicet - Santa Fe. Instituto de Desarrollo Tecnológico para la Industria Química. Universidad Nacional del Litoral. Instituto de Desarrollo Tecnológico para la Industria Química; Argentina
dc.description.fil
Fil: Bellino, Martín G.. Consejo Nacional de Investigaciones Científicas y Técnicas; Argentina
dc.journal.title
Colloids and Surfaces A: Physicochemical and Engineering Aspects
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dc.relation.alternativeid
info:eu-repo/semantics/altIdentifier/url/http://linkinghub.elsevier.com/retrieve/pii/S0927775717303679
dc.relation.alternativeid
info:eu-repo/semantics/altIdentifier/doi/http://dx.doi.org/10.1016/j.colsurfa.2017.04.035
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