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Artículo

Efecto de los contactos sobre las propiedades electricas de silicio poroso nanoestructurado

Título: Effect of contacts on electrical properties of nanostructured porous silicon
Marín Ramírez, Oscar AlonsoIcon ; Comedi, David MarioIcon ; Koropecki, Roberto RomanIcon
Fecha de publicación: 05/2012
Editorial: Asociación Física Argentina
Revista: Anales AFA
ISSN: 0327-358X
Idioma: Español
Tipo de recurso: Artículo publicado
Clasificación temática:
Física de los Materiales Condensados

Resumen

 
En este trabajo se presentan resultados preliminares sobre el estudio del efecto de los contactos metálicos de aluminio sobre las propiedades de transporte eléctrico del silicio poroso nanoestructurado sobre sustratos de vidrio. Se realizaron medidas de TSDC entre 270 y 365 K y de dependencia temporal de la corriente con voltajes de polarización entre 0.1 y 1.5 V. Se analiza el incremento de la corriente cuando se aplica el voltaje y la relajación en condiciones de corto circuito en función del tiempo. A partir de las curvas de corriente vs. tiempo (It) medidas, se obtienen curvas corriente vs. voltaje (IV). Las curvas I-V sugieren un comportamiento tipo Schottky y permiten desestimar un mecanismo Poole-Frenkel. Para V < 0.4V, la corriente crece a partir del momento en que se aplica la tensión hasta un tiempo t1(V), siguiendo una ley exponencial. Para t > t1(V) la corriente disminuye siguiendo una ley de potencia de la que finalmente se aparta para saturar. Para V > 0.4V el efecto de disminución de la corriente desaparece. Al llevar el voltaje a cero, la corriente muestra un decaimiento abrupto, con cambio de signo para después subir al valor base. Los experimentos de TSDC mostraron una inversion de la corriente.
 
We present preliminary results on the effect of contacts on electrical properties of nanostructured porous silicon supported on glass. TSDC measurements were performed in the 270 - 365 K temperature range. The time dependence of the current for applied bias within the 0.1-1.5V range was also studied. The current increase after the voltage is applied and its relaxation in short circuit conditions are analized. The current-voltage curves (IV) suggest a Schottky behavior, the Poole-Frenkel mechanism being ruled out. When V < 0.4 V is applied, the current increases up till a time t1(V), following an exponential law. For t > t1(V) the current decreases following a power law before saturating. For V > 0.4 V the decrease of current is not further observed. When the applied voltage is removed (short-circuit condition), the current decreases abruptly, changes sign and then increases again towards its stationary value. TSDC experiments show a current sign inversion.
 
Palabras clave: Silicio Poroso Nanoestructurado , Contactos Electricos , Heterocarga
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Identificadores
URI: http://hdl.handle.net/11336/18796
URL: http://anales.fisica.org.ar/journal/index.php/analesafa/article/view/433
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Articulos de INST.DE DES.TECNOL.PARA LA IND.QUIMICA (I)
Citación
Marín Ramírez, Oscar Alonso; Comedi, David Mario; Koropecki, Roberto Roman; Efecto de los contactos sobre las propiedades electricas de silicio poroso nanoestructurado; Asociación Física Argentina; Anales AFA; 22; 2; 5-2012; 42-45
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