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Artículo

L-shell ionization of Cd: Structure of the x-ray emission spectrum

Fernandez, FranciscoIcon ; Sepúlveda, A.; Trincavelli, Jorge CarlosIcon ; Castellano, Gustavo EugenioIcon
Fecha de publicación: 01/2022
Editorial: Elsevier Science
Revista: Ultramicroscopy
ISSN: 0304-3991
e-ISSN: 1879-2723
Idioma: Inglés
Tipo de recurso: Artículo publicado
Clasificación temática:
Física Atómica, Molecular y Química

Resumen

The cadmium L x-ray spectrum induced by electron impact was analyzed in detail. The measurements were performed on a bulk pure sample using a commercial wavelength dispersive spectrometer, and the spectrum was processed with a parameter optimization method previously developed. This procedure permitted the determination of characteristic energies, relative transition probabilities and natural linewidths for this element. The results obtained here were compared to the data found in the literature, when available. Spectral structures related to satellite and radiative Auger Effect emissions were also analyzed, assessing energy shifts and relative intensities. Some of these parameters were determined for the first time, even in overlapping peaks and weak transitions, which was possible due to the robustness of the spectral processing method used.
Palabras clave: CHARACTERISTIC ENERGY , RADIATIVE AUGER EMISSION , RADIATIVE TRANSITION PROBABILITY , SATELLITE LINES , X-RAY EMISSION SPECTROSCOPY
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info:eu-repo/semantics/openAccess Excepto donde se diga explícitamente, este item se publica bajo la siguiente descripción: Creative Commons Attribution-NonCommercial-ShareAlike 2.5 Unported (CC BY-NC-SA 2.5)
Identificadores
URI: http://hdl.handle.net/11336/182377
URL: https://linkinghub.elsevier.com/retrieve/pii/S0304399121001790
DOI: http://dx.doi.org/10.1016/j.ultramic.2021.113401
Colecciones
Articulos(IFEG)
Articulos de INST.DE FISICA ENRIQUE GAVIOLA
Citación
Fernandez, Francisco; Sepúlveda, A.; Trincavelli, Jorge Carlos; Castellano, Gustavo Eugenio; L-shell ionization of Cd: Structure of the x-ray emission spectrum; Elsevier Science; Ultramicroscopy; 232; 1-2022; 1-6
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