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dc.contributor.author
Etchepareborda, Pablo Gonzalo
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dc.contributor.author
Vadnjal, Ana Laura
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dc.contributor.author
Bianchetti, Arturo Abel
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dc.contributor.author
Veiras, Francisco Ezequiel
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dc.contributor.author
Federico, Roque Alejandro
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dc.contributor.author
Kaufmann, Guillermo Hector
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dc.date.available
2022-11-23T10:48:56Z
dc.date.issued
2017-03
dc.identifier.citation
Etchepareborda, Pablo Gonzalo; Vadnjal, Ana Laura; Bianchetti, Arturo Abel; Veiras, Francisco Ezequiel; Federico, Roque Alejandro; et al.; Comparative analysis of nanometric inspection methods in fringeless speckle pattern interferometry; Optical Society of America; Applied Optics; 56; 3; 3-2017; 365-374
dc.identifier.issn
0003-6935
dc.identifier.uri
http://hdl.handle.net/11336/178632
dc.description.abstract
In digital speckle pattern interferometry, fringeless speckle pattern interferograms are obtained when the object field deformation is insufficient to produce local phase variations higher than 2π. Therefore, the use of the well-known phase recovery algorithms based on fringe processing is not adequate. In this work, distinct algorithms based on the application of a straightforward arccosine function to a filtered interferogram and the correlation of intensity images and implicit smoothing splines are proposed, analyzed, and compared for the fast inspection of nanometric displacement fields, avoiding the acquisition of several images. In addition, three different methods for the normalization of fringeless speckle pattern interferograms are proposed. The Structural Similarity Index is used to assess the performance of the tested methods by means of numerical simulations under different illuminations, signal-to-noise ratios, phase excursions, and mean speckle size conditions. The analysis shows that the phase recovered by the methods based on the arccosine function and correlation are appropriate for a fast inspection solution. The implicit smoothing spline outperforms other methods in almost all conditions.
dc.format
application/pdf
dc.language.iso
eng
dc.publisher
Optical Society of America
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dc.rights
info:eu-repo/semantics/openAccess
dc.rights.uri
https://creativecommons.org/licenses/by-nc-sa/2.5/ar/
dc.subject
Image processing
dc.subject
Digital image processing
dc.subject
Phase retrieval
dc.subject
Optical inspection
dc.subject
Speckle interferometry
dc.subject.classification
Sistemas de Automatización y Control
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dc.subject.classification
Ingeniería Eléctrica, Ingeniería Electrónica e Ingeniería de la Información
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dc.subject.classification
INGENIERÍAS Y TECNOLOGÍAS
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dc.title
Comparative analysis of nanometric inspection methods in fringeless speckle pattern interferometry
dc.type
info:eu-repo/semantics/article
dc.type
info:ar-repo/semantics/artículo
dc.type
info:eu-repo/semantics/publishedVersion
dc.date.updated
2022-11-22T09:12:48Z
dc.identifier.eissn
2155-3165
dc.journal.volume
56
dc.journal.number
3
dc.journal.pagination
365-374
dc.journal.pais
Estados Unidos
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dc.journal.ciudad
Washington
dc.description.fil
Fil: Etchepareborda, Pablo Gonzalo. Consejo Nacional de Investigaciones Científicas y Técnicas; Argentina. Instituto Nacional de Tecnología Industrial; Argentina
dc.description.fil
Fil: Vadnjal, Ana Laura. Consejo Nacional de Investigaciones Científicas y Técnicas; Argentina. Instituto Nacional de Tecnología Industrial; Argentina
dc.description.fil
Fil: Bianchetti, Arturo Abel. Instituto Nacional de Tecnología Industrial; Argentina. Consejo Nacional de Investigaciones Científicas y Técnicas; Argentina
dc.description.fil
Fil: Veiras, Francisco Ezequiel. Consejo Nacional de Investigaciones Científicas y Técnicas; Argentina. Universidad de Buenos Aires. Facultad de Ingeniería. Departamento de Física; Argentina
dc.description.fil
Fil: Federico, Roque Alejandro. Instituto Nacional de Tecnología Industrial; Argentina
dc.description.fil
Fil: Kaufmann, Guillermo Hector. Consejo Nacional de Investigaciones Científicas y Técnicas. Centro Científico Tecnológico Conicet - Rosario. Instituto de Física de Rosario. Universidad Nacional de Rosario. Instituto de Física de Rosario; Argentina
dc.journal.title
Applied Optics
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dc.relation.alternativeid
info:eu-repo/semantics/altIdentifier/url/https://www.osapublishing.org/ao/abstract.cfm?uri=ao-56-3-365
dc.relation.alternativeid
info:eu-repo/semantics/altIdentifier/doi/http://dx.doi.org/10.1364/AO.56.000365
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