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dc.contributor.author
da Silva Costa, Daniel
dc.contributor.author
Kellermann, Guinther
dc.contributor.author
Craievich, Aldo Felix
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dc.contributor.author
Montoro, Luciano A.
dc.contributor.author
Oliveira, Camilla K. B. Q. M.
dc.contributor.author
Afonso, Conrado R.M.
dc.contributor.author
Huck Iriart, Cristián
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dc.contributor.author
Giovanetti, Lisandro Jose
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dc.contributor.author
Requejo, Felix Gregorio
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dc.contributor.author
Zanella, Igor G.
dc.contributor.author
Mazzaro, Irineu
dc.contributor.author
Szameitat, Erico S.
dc.contributor.author
Cardoso, Rodrigo P.
dc.date.available
2022-06-24T10:57:44Z
dc.date.issued
2022-04
dc.identifier.citation
da Silva Costa, Daniel; Kellermann, Guinther; Craievich, Aldo Felix; Montoro, Luciano A.; Oliveira, Camilla K. B. Q. M.; et al.; Highly oriented NiSi2@Si thin-nanocomposite produced by solid state diffusion: Morphological and crystallographic characterization; Elsevier; Surfaces and Interfaces; 29; 4-2022; 1-13
dc.identifier.issn
2468-0230
dc.identifier.uri
http://hdl.handle.net/11336/160438
dc.description.abstract
This article describes a morphological and crystallographic multi-technique characterization of a 2D-nanocomposite consisting of highly oriented NiSi2 nanoplates endotaxially grown inside a single-crystalline Si(001) wafer close to its external surface. This nanostructured material is prepared using a novel procedure which promotes the diffusion of Ni atoms from a deposited Ni-dopped-SiO2 thin film into the volume of a Si(001) flat wafer under controlled thermodynamic conditions. High Resolution Scanning Transmission Electron Microscopy images reveal the formations of well oriented thin hexagonal nanoplates totally buried inside a Si(001) wafer and randomly oriented nearly spherical Ni nanocrystals located inside the Ni-doped SiO2 thin film and also inside a thin layer close to external surface of the Si(001) wafer. The NiSi2 nanoplates formed by endotaxial growth have their large hexagonal flat surfaces parallel to one of the four Si{111} crystallographic planes and exhibit coherent 7A-type interfaces with the host Si matrix. Additional analyses of Grazing-Incidence Small-Angle X-ray Scattering patterns - which probe a high number of nanoparticles - indicated that the average thickness and maximum diameter of NiSi2 nanoplates are 12 nm and 118 nm, respectively, and the average radius of Ni nanocrystals is 1.7 nm. The described process for obtaining 2D-NiSi2@Si nanocomposites opens new possibilities for exploiting the structural features of these materials for use in devices requiring anisotropic electrical transport properties.
dc.format
application/pdf
dc.language.iso
eng
dc.publisher
Elsevier
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dc.rights
info:eu-repo/semantics/restrictedAccess
dc.rights.uri
https://creativecommons.org/licenses/by-nc-sa/2.5/ar/
dc.subject
GISAXS
dc.subject
NANOPARTICLES
dc.subject
NANOPLATES
dc.subject
NISI2@SI
dc.subject
TEM
dc.subject.classification
Física de los Materiales Condensados
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dc.subject.classification
Ciencias Físicas
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dc.subject.classification
CIENCIAS NATURALES Y EXACTAS
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dc.title
Highly oriented NiSi2@Si thin-nanocomposite produced by solid state diffusion: Morphological and crystallographic characterization
dc.type
info:eu-repo/semantics/article
dc.type
info:ar-repo/semantics/artículo
dc.type
info:eu-repo/semantics/publishedVersion
dc.date.updated
2022-06-21T18:31:33Z
dc.journal.volume
29
dc.journal.pagination
1-13
dc.journal.pais
Países Bajos
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dc.description.fil
Fil: da Silva Costa, Daniel. Universidade Federal do Paraná; Brasil
dc.description.fil
Fil: Kellermann, Guinther. Universidade Federal do Paraná; Brasil
dc.description.fil
Fil: Craievich, Aldo Felix. Universidade de Sao Paulo; Brasil
dc.description.fil
Fil: Montoro, Luciano A.. Universidade Federal de Minas Gerais; Brasil
dc.description.fil
Fil: Oliveira, Camilla K. B. Q. M.. Universidade Federal do Paraná; Brasil
dc.description.fil
Fil: Afonso, Conrado R.M.. Universidade de Sao Paulo; Brasil
dc.description.fil
Fil: Huck Iriart, Cristián. Universidad Nacional de San Martín. Escuela de Ciencia y Tecnología; Argentina. Consejo Nacional de Investigaciones Científicas y Técnicas; Argentina
dc.description.fil
Fil: Giovanetti, Lisandro Jose. Consejo Nacional de Investigaciones Científicas y Técnicas. Centro Científico Tecnológico Conicet - La Plata. Instituto de Investigaciones Fisicoquímicas Teóricas y Aplicadas. Universidad Nacional de La Plata. Facultad de Ciencias Exactas. Instituto de Investigaciones Fisicoquímicas Teóricas y Aplicadas; Argentina
dc.description.fil
Fil: Requejo, Felix Gregorio. Consejo Nacional de Investigaciones Científicas y Técnicas. Centro Científico Tecnológico Conicet - La Plata. Instituto de Investigaciones Fisicoquímicas Teóricas y Aplicadas. Universidad Nacional de La Plata. Facultad de Ciencias Exactas. Instituto de Investigaciones Fisicoquímicas Teóricas y Aplicadas; Argentina
dc.description.fil
Fil: Zanella, Igor G.. Universidade Federal do Paraná; Brasil
dc.description.fil
Fil: Mazzaro, Irineu. Universidade Federal do Paraná; Brasil
dc.description.fil
Fil: Szameitat, Erico S.. Universidade Federal do Paraná; Brasil
dc.description.fil
Fil: Cardoso, Rodrigo P.. Universidade Federal do Paraná; Brasil
dc.journal.title
Surfaces and Interfaces
dc.relation.alternativeid
info:eu-repo/semantics/altIdentifier/url/https://linkinghub.elsevier.com/retrieve/pii/S246802302200044X
dc.relation.alternativeid
info:eu-repo/semantics/altIdentifier/doi/http://dx.doi.org/10.1016/j.surfin.2022.101763
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