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dc.contributor.author
Gama, Fernando  
dc.contributor.author
Cernuschi Frias, Bruno  
dc.contributor.author
Casaglia, Daniel Claudio  
dc.date.available
2022-05-04T02:01:08Z  
dc.date.issued
2014  
dc.identifier.citation
A new approach for biased affine estimation; IEEE Biennial Congress of Argentina (ARGENCON); San Carlos de Bariloche; Argentina; 2014; 13-18  
dc.identifier.isbn
978-1-4799-4270-1  
dc.identifier.uri
http://hdl.handle.net/11336/156410  
dc.description.abstract
The problem of biased affine estimation is discussed in the present paper. Affine estimation is a technique for improving parameter estimation through the inclusion of a-priori information in a non-bayesian setting. Here, a new optimality criterion for affine estimation is presented and developed. The closed form optimal transformation for this criterion is obtained through the use of the KKT conditions, as the new criterion is posed as a convex optimization problem. This new criterion is compared with other affine estimation criteria through a numerical example.  
dc.format
application/pdf  
dc.language.iso
eng  
dc.publisher
IEEE  
dc.rights
info:eu-repo/semantics/restrictedAccess  
dc.rights.uri
https://creativecommons.org/licenses/by-nc-sa/2.5/ar/  
dc.subject
PARAMETER ESTIMATION  
dc.subject
BIASED  
dc.subject
AFFINE ESTIMATOR  
dc.subject
CONVEX OPTIMIZATION  
dc.subject.classification
Ingeniería de Sistemas y Comunicaciones  
dc.subject.classification
Ingeniería Eléctrica, Ingeniería Electrónica e Ingeniería de la Información  
dc.subject.classification
INGENIERÍAS Y TECNOLOGÍAS  
dc.title
A new approach for biased affine estimation  
dc.type
info:eu-repo/semantics/publishedVersion  
dc.type
info:eu-repo/semantics/conferenceObject  
dc.type
info:ar-repo/semantics/documento de conferencia  
dc.date.updated
2022-04-28T14:27:41Z  
dc.journal.pagination
13-18  
dc.journal.pais
Estados Unidos  
dc.journal.ciudad
New York  
dc.description.fil
Fil: Gama, Fernando. Universidad de Buenos Aires. Facultad de Ingeniería. Departamento de Electronica; Argentina  
dc.description.fil
Fil: Cernuschi Frias, Bruno. Consejo Nacional de Investigaciones Científicas y Técnicas. Oficina de Coordinación Administrativa Saavedra 15. Instituto Argentino de Matemática Alberto Calderón; Argentina. Universidad de Buenos Aires. Facultad de Ingeniería. Departamento de Electronica; Argentina  
dc.description.fil
Fil: Casaglia, Daniel Claudio. Consejo Nacional de Investigaciones Científicas y Técnicas. Oficina de Coordinación Administrativa Saavedra 15. Instituto Argentino de Matemática Alberto Calderón; Argentina. Universidad de Buenos Aires. Facultad de Ingeniería. Departamento de Electronica; Argentina  
dc.relation.alternativeid
info:eu-repo/semantics/altIdentifier/url/https://ieeexplore.ieee.org/document/6868465  
dc.relation.alternativeid
info:eu-repo/semantics/altIdentifier/doi/http://dx.doi.org/10.1109/ARGENCON.2014.6868465  
dc.conicet.rol
Autor  
dc.conicet.rol
Autor  
dc.conicet.rol
Autor  
dc.coverage
Internacional  
dc.type.subtype
Congreso  
dc.description.nombreEvento
IEEE Biennial Congress of Argentina (ARGENCON)  
dc.date.evento
2014-06-13  
dc.description.ciudadEvento
San Carlos de Bariloche  
dc.description.paisEvento
Argentina  
dc.type.publicacion
Book  
dc.description.institucionOrganizadora
IEEE  
dc.source.libro
2014 IEEE Biennial Congress of Argentina (ARGENCON)  
dc.date.eventoHasta
2014-06-14  
dc.type
Congreso  

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Tamaño: 333.9Kb
Formato: PDF
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