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dc.contributor.author
Chierchie, Fernando
dc.contributor.author
Fernández Moroni, Guillermo
dc.contributor.author
Stefanazzi, Leandro
dc.contributor.author
Paolini, Eduardo Emilio
dc.contributor.author
Tiffenberg, Javier Sebastian
dc.contributor.author
Estrada, Juan
dc.contributor.author
Cancelo, Gustavo Indalecio
dc.contributor.author
Uemura, Sho
dc.date.available
2022-03-16T10:51:35Z
dc.date.issued
2021-12
dc.identifier.citation
Chierchie, Fernando; Fernández Moroni, Guillermo; Stefanazzi, Leandro; Paolini, Eduardo Emilio; Tiffenberg, Javier Sebastian; et al.; Smart Readout of Nondestructive Image Sensors with Single Photon-Electron Sensitivity; American Physical Society; Physical Review Letters; 127; 24; 12-2021; 1-12
dc.identifier.issn
0031-9007
dc.identifier.uri
http://hdl.handle.net/11336/153423
dc.description.abstract
Image sensors with nondestructive charge readout provide single-photon or single-electron sensitivity, but at the cost of long readout times. We present a smart readout technique to allow the use of these sensors in visible light and other applications that require faster readout times. The method optimizes the readout noise and time by changing the number of times pixels are read out either statically, by defining an arbitrary number of regions of interest in the array, or dynamically, depending on the charge or energy of interest in the pixel. This technique is tested in a Skipper CCD showing that it is possible to obtain deep subelectron noise, and therefore, high resolution of quantized charge, while dynamically changing the readout noise of the sensor. These faster, low noise readout techniques show that the skipper CCD is a competitive technology even where other technologies such as electron multiplier charge coupled devices, silicon photo multipliers, etc. are currently used. This technique could allow skipper CCDs to benefit new astronomical instruments, quantum imaging, exoplanet search and study, and quantum metrology.
dc.format
application/pdf
dc.language.iso
eng
dc.publisher
American Physical Society
dc.rights
info:eu-repo/semantics/openAccess
dc.rights.uri
https://creativecommons.org/licenses/by-nc-sa/2.5/ar/
dc.subject
image sensor
dc.subject
Single-photon
dc.subject
smart redout
dc.subject
low redout noise
dc.subject.classification
Ingeniería Eléctrica y Electrónica
dc.subject.classification
Ingeniería Eléctrica, Ingeniería Electrónica e Ingeniería de la Información
dc.subject.classification
INGENIERÍAS Y TECNOLOGÍAS
dc.title
Smart Readout of Nondestructive Image Sensors with Single Photon-Electron Sensitivity
dc.type
info:eu-repo/semantics/article
dc.type
info:ar-repo/semantics/artículo
dc.type
info:eu-repo/semantics/publishedVersion
dc.date.updated
2022-02-21T19:30:35Z
dc.journal.volume
127
dc.journal.number
24
dc.journal.pagination
1-12
dc.journal.pais
Estados Unidos
dc.description.fil
Fil: Chierchie, Fernando. Consejo Nacional de Investigaciones Científicas y Técnicas. Centro Científico Tecnológico Conicet - Bahía Blanca. Instituto de Investigaciones en Ingeniería Eléctrica "Alfredo Desages". Universidad Nacional del Sur. Departamento de Ingeniería Eléctrica y de Computadoras. Instituto de Investigaciones en Ingeniería Eléctrica "Alfredo Desages"; Argentina
dc.description.fil
Fil: Fernández Moroni, Guillermo. Fermi National Accelerator Laboratory; Estados Unidos. Consejo Nacional de Investigaciones Científicas y Técnicas. Centro Científico Tecnológico Conicet - Bahía Blanca. Instituto de Investigaciones en Ingeniería Eléctrica "Alfredo Desages". Universidad Nacional del Sur. Departamento de Ingeniería Eléctrica y de Computadoras. Instituto de Investigaciones en Ingeniería Eléctrica "Alfredo Desages"; Argentina
dc.description.fil
Fil: Stefanazzi, Leandro. Consejo Nacional de Investigaciones Científicas y Técnicas. Centro Científico Tecnológico Conicet - Bahía Blanca. Instituto de Investigaciones en Ingeniería Eléctrica "Alfredo Desages". Universidad Nacional del Sur. Departamento de Ingeniería Eléctrica y de Computadoras. Instituto de Investigaciones en Ingeniería Eléctrica "Alfredo Desages"; Argentina. Fermi National Accelerator Laboratory; Estados Unidos
dc.description.fil
Fil: Paolini, Eduardo Emilio. Consejo Nacional de Investigaciones Científicas y Técnicas. Centro Científico Tecnológico Conicet - Bahía Blanca. Instituto de Investigaciones en Ingeniería Eléctrica "Alfredo Desages". Universidad Nacional del Sur. Departamento de Ingeniería Eléctrica y de Computadoras. Instituto de Investigaciones en Ingeniería Eléctrica "Alfredo Desages"; Argentina
dc.description.fil
Fil: Tiffenberg, Javier Sebastian. Fermi National Accelerator Laboratory; Estados Unidos. Consejo Nacional de Investigaciones Científicas y Técnicas; Argentina
dc.description.fil
Fil: Estrada, Juan. Fermi National Accelerator Laboratory; Estados Unidos
dc.description.fil
Fil: Cancelo, Gustavo Indalecio. Fermi National Accelerator Laboratory; Estados Unidos
dc.description.fil
Fil: Uemura, Sho. Universitat Tel Aviv; Israel
dc.journal.title
Physical Review Letters
dc.relation.alternativeid
info:eu-repo/semantics/altIdentifier/url/https://link.aps.org/doi/10.1103/PhysRevLett.127.241101
dc.relation.alternativeid
info:eu-repo/semantics/altIdentifier/doi/http://dx.doi.org/10.1103/PhysRevLett.127.241101
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