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dc.contributor.author
Tendela, Lucas Pedro  
dc.contributor.author
Federico, Roque Alejandro  
dc.contributor.author
Kaufmann, Guillermo Hector  
dc.date.available
2017-04-11T19:56:38Z  
dc.date.issued
2011-02  
dc.identifier.citation
Tendela, Lucas Pedro; Federico, Roque Alejandro; Kaufmann, Guillermo Hector; Evaluation of the piezoelectric behaviour produced by a thick-film transducer using digital speckle pattern interferometry; Elsevier; Optics And Lasers In Engineering; 49; 2; 2-2011; 281-284  
dc.identifier.issn
0143-8166  
dc.identifier.uri
http://hdl.handle.net/11336/15163  
dc.description.abstract
This paper presents an interferometric measurement of the out-of-plane deflections produced by a piezoelectric transducer, manufactured by thick-film deposition of a ceramic paste over an alumina substrate, when is subjected to a DC electric voltage. It is shown that a digital speckle pattern interferometer with an incorporated phase-shifting facility allows the measurement of nanometer displacements generated by the piezoelectric device. These measurements are used to evaluate the effective piezoelectric charge constant along the polarization direction (d33)eff that characterizes the thick-film transducer.  
dc.format
application/pdf  
dc.language.iso
eng  
dc.publisher
Elsevier  
dc.rights
info:eu-repo/semantics/openAccess  
dc.rights.uri
https://creativecommons.org/licenses/by-nc-nd/2.5/ar/  
dc.subject
Digital Speckle Pattern Interferometry  
dc.subject
Piezoelectric Transducers  
dc.subject
Thick Films  
dc.subject
Screen Printed Ceramics  
dc.subject.classification
Otras Ingeniería Eléctrica, Ingeniería Electrónica e Ingeniería de la Información  
dc.subject.classification
Ingeniería Eléctrica, Ingeniería Electrónica e Ingeniería de la Información  
dc.subject.classification
INGENIERÍAS Y TECNOLOGÍAS  
dc.title
Evaluation of the piezoelectric behaviour produced by a thick-film transducer using digital speckle pattern interferometry  
dc.type
info:eu-repo/semantics/article  
dc.type
info:ar-repo/semantics/artículo  
dc.type
info:eu-repo/semantics/publishedVersion  
dc.date.updated
2017-04-11T17:52:21Z  
dc.journal.volume
49  
dc.journal.number
2  
dc.journal.pagination
281-284  
dc.journal.pais
Países Bajos  
dc.journal.ciudad
Amsterdam  
dc.description.fil
Fil: Tendela, Lucas Pedro. Consejo Nacional de Investigaciones Científicas y Técnicas. Centro Científico Tecnológico Rosario. Instituto de Física de Rosario (i); Argentina. Universidad Nacional de Rosario; Argentina  
dc.description.fil
Fil: Federico, Roque Alejandro. Instituto Nacional de Tecnologia Industrial; Argentina  
dc.description.fil
Fil: Kaufmann, Guillermo Hector. Consejo Nacional de Investigaciones Científicas y Técnicas. Centro Científico Tecnológico Rosario. Instituto de Física de Rosario (i); Argentina. Consejo Nacional de Investigaciones Científicas y Técnicas. Centro Científico Tecnológico Rosario. Centro Internacional Franco Argentino de Ciencias de la Información y Sistemas; Argentina. Universidad Nacional de Rosario; Argentina  
dc.journal.title
Optics And Lasers In Engineering  
dc.relation.alternativeid
info:eu-repo/semantics/altIdentifier/doi/http://dx.doi.org/10.1016/j.optlaseng.2010.10.002  
dc.relation.alternativeid
info:eu-repo/semantics/altIdentifier/url/http://www.sciencedirect.com/science/article/pii/S0143816610002125  

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Formato: PDF
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