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dc.contributor.author
Sofo Haro, Miguel Francisco
dc.contributor.author
Chavez, C.
dc.contributor.author
Lipovetzky, José
dc.contributor.author
Alcalde Bessia, Fabricio Pablo
dc.contributor.author
Cancelo, Gustavo Indalecio
dc.contributor.author
Chierchie, Fernando
dc.contributor.author
Estrada, Pablo Javier
dc.contributor.author
Fernández Moroni, Guillermo
dc.contributor.author
Stefanazzi, Leandro
dc.contributor.author
Tiffenberg, Javier Sebastian
dc.contributor.author
Uemura, S
dc.date.available
2021-12-29T15:53:43Z
dc.date.issued
2021-11
dc.identifier.citation
Sofo Haro, Miguel Francisco; Chavez, C.; Lipovetzky, José; Alcalde Bessia, Fabricio Pablo; Cancelo, Gustavo Indalecio; et al.; Analog pile-up circuit technique using a single capacitor for the readout of Skipper-CCD detectors; IOP Publishing; Journal of Instrumentation; 16; 11; 11-2021; 1-11
dc.identifier.issn
1748-0221
dc.identifier.uri
http://hdl.handle.net/11336/149387
dc.description.abstract
With Skipper-CCD detectors it is possible to take multiple samples of the charge packet collected on each pixel. After averaging the samples, the noise can be extremely reduced allowing the exact counting of electrons per pixel. In this work we present an analog circuit that, with a minimum number of components, applies a double slope integration (DSI) and at the same time averages the multiple samples, producing at its output the pixel value with sub-electron noise. For this purpose, we introduce the technique of using the DSI integrator capacitor to add the skipper samples. An experimental verification using discrete components is presented, together with an analysis of its noise sources and limitations. After averaging 400 samples it was possible to reach a readout noise of 0.18 e−rms/pix, comparable to other available readout systems. Due to its simplicity and significant reduction of the sampling requirements, this circuit technique is of particular interest in particle experiments and cameras with a high density of Skipper-CCDs.
dc.format
application/pdf
dc.language.iso
eng
dc.publisher
IOP Publishing
dc.rights
info:eu-repo/semantics/restrictedAccess
dc.rights.uri
https://creativecommons.org/licenses/by-nc-sa/2.5/ar/
dc.subject
Analogue electronic circuits
dc.subject
Electronic detector readout concepts
dc.subject
Frontend electronics
dc.subject
Detector readout
dc.subject.classification
Ingeniería Eléctrica y Electrónica
dc.subject.classification
Ingeniería Eléctrica, Ingeniería Electrónica e Ingeniería de la Información
dc.subject.classification
INGENIERÍAS Y TECNOLOGÍAS
dc.title
Analog pile-up circuit technique using a single capacitor for the readout of Skipper-CCD detectors
dc.type
info:eu-repo/semantics/article
dc.type
info:ar-repo/semantics/artículo
dc.type
info:eu-repo/semantics/publishedVersion
dc.date.updated
2021-12-03T19:22:20Z
dc.journal.volume
16
dc.journal.number
11
dc.journal.pagination
1-11
dc.journal.pais
Reino Unido
dc.journal.ciudad
Londres
dc.description.fil
Fil: Sofo Haro, Miguel Francisco. Consejo Nacional de Investigaciones Científicas y Técnicas; Argentina. Comisión Nacional de Energía Atómica. Gerencia del Área de Energía Nuclear. Instituto Balseiro; Argentina. Fermi National Accelerator Laboratory; Estados Unidos
dc.description.fil
Fil: Chavez, C.. Consejo Nacional de Investigaciones Científicas y Técnicas. Centro Científico Tecnológico Conicet - Bahía Blanca. Instituto de Investigaciones en Ingeniería Eléctrica "Alfredo Desages". Universidad Nacional del Sur. Departamento de Ingeniería Eléctrica y de Computadoras. Instituto de Investigaciones en Ingeniería Eléctrica "Alfredo Desages"; Argentina
dc.description.fil
Fil: Lipovetzky, José. Consejo Nacional de Investigaciones Científicas y Técnicas; Argentina. Comisión Nacional de Energía Atómica. Gerencia del Área de Energía Nuclear. Instituto Balseiro; Argentina. Comisión Nacional de Energía Atómica. Centro Atómico Bariloche; Argentina
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Fil: Alcalde Bessia, Fabricio Pablo. Consejo Nacional de Investigaciones Científicas y Técnicas; Argentina. Comisión Nacional de Energía Atómica. Gerencia del Área de Energía Nuclear. Instituto Balseiro; Argentina. Comisión Nacional de Energía Atómica. Centro Atómico Bariloche; Argentina
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Fil: Cancelo, Gustavo Indalecio. Fermi National Accelerator Laboratory; Estados Unidos
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Fil: Chierchie, Fernando. Consejo Nacional de Investigaciones Científicas y Técnicas. Centro Científico Tecnológico Conicet - Bahía Blanca. Instituto de Investigaciones en Ingeniería Eléctrica "Alfredo Desages". Universidad Nacional del Sur. Departamento de Ingeniería Eléctrica y de Computadoras. Instituto de Investigaciones en Ingeniería Eléctrica "Alfredo Desages"; Argentina
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Fil: Estrada, Pablo Javier. Fermi National Accelerator Laboratory; Estados Unidos
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Fil: Fernández Moroni, Guillermo. Consejo Nacional de Investigaciones Científicas y Técnicas; Argentina. Fermi National Accelerator Laboratory; Estados Unidos
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Fil: Stefanazzi, Leandro. Consejo Nacional de Investigaciones Científicas y Técnicas. Centro Científico Tecnológico Conicet - Bahía Blanca. Instituto de Investigaciones en Ingeniería Eléctrica "Alfredo Desages". Universidad Nacional del Sur. Departamento de Ingeniería Eléctrica y de Computadoras. Instituto de Investigaciones en Ingeniería Eléctrica "Alfredo Desages"; Argentina. Fermi National Accelerator Laboratory; Estados Unidos
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Fil: Tiffenberg, Javier Sebastian. Consejo Nacional de Investigaciones Científicas y Técnicas; Argentina. Fermi National Accelerator Laboratory; Estados Unidos
dc.description.fil
Fil: Uemura, S. Tel Aviv University; Israel
dc.journal.title
Journal of Instrumentation
dc.relation.alternativeid
info:eu-repo/semantics/altIdentifier/doi/https://doi.org/10.1088/1748-0221/16/11/P11012
dc.relation.alternativeid
info:eu-repo/semantics/altIdentifier/url/https://iopscience.iop.org/article/10.1088/1748-0221/16/11/P11012
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