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dc.contributor.author
Kataev, Elmar
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dc.contributor.author
Wechsler, Daniel
dc.contributor.author
Williams, Federico José
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dc.contributor.author
Köbl, Julia
dc.contributor.author
Tsud, Natalia
dc.contributor.author
Franchi, Stefano
dc.contributor.author
Steinruck, Hans Peter
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dc.contributor.author
Lytken, Ole
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dc.date.available
2021-09-23T16:50:31Z
dc.date.issued
2020-10
dc.identifier.citation
Kataev, Elmar; Wechsler, Daniel; Williams, Federico José; Köbl, Julia; Tsud, Natalia; et al.; Probing the Roughness of Porphyrin Thin Films with X-ray Photoelectron Spectroscopy; Wiley VCH Verlag; Chemphyschem; 21; 20; 10-2020; 2293-2300
dc.identifier.issn
1439-4235
dc.identifier.uri
http://hdl.handle.net/11336/141385
dc.description.abstract
Thin-film growth of molecular systems is of interest for many applications, such as for instance organic electronics. In this study, we demonstrate how X-ray photoelectron spectroscopy (XPS) can be used to study the growth behavior of such molecular systems. In XPS, coverages are often calculated assuming a uniform thickness across a surface. This results in an error for rough films, and the magnitude of this error depends on the kinetic energy of the photoelectrons analyzed. We have used this kinetic-energy dependency to estimate the roughnesses of thin porphyrin films grown on rutile TiO2(110). We used two different molecules: cobalt (II) monocarboxyphenyl-10,15,20-triphenylporphyrin (CoMCTPP), with carboxylic-acid anchor groups, and cobalt (II) tetraphenylporphyrin (CoTPP), without anchor groups. We find CoMCTPP to grow as rough films at room temperature across the studied coverage range, whereas for CoTPP the first two layers remain smooth and even; depositing additional CoTPP results in rough films. Although, XPS is not a common technique for measuring roughness, it is fast and provides information of both roughness and thickness in one measurement.
dc.format
application/pdf
dc.language.iso
eng
dc.publisher
Wiley VCH Verlag
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dc.rights
info:eu-repo/semantics/openAccess
dc.rights.uri
https://creativecommons.org/licenses/by-nc/2.5/ar/
dc.subject
GROWTH
dc.subject
PORPHYRIN MOLECULES
dc.subject
THIN FILMS
dc.subject
X-RAY PHOTOELECTRON SPECTROSCOPY
dc.subject.classification
Físico-Química, Ciencia de los Polímeros, Electroquímica
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dc.subject.classification
Ciencias Químicas
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dc.subject.classification
CIENCIAS NATURALES Y EXACTAS
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dc.title
Probing the Roughness of Porphyrin Thin Films with X-ray Photoelectron Spectroscopy
dc.type
info:eu-repo/semantics/article
dc.type
info:ar-repo/semantics/artículo
dc.type
info:eu-repo/semantics/publishedVersion
dc.date.updated
2021-04-28T21:05:31Z
dc.journal.volume
21
dc.journal.number
20
dc.journal.pagination
2293-2300
dc.journal.pais
Alemania
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dc.journal.ciudad
Weinheim
dc.description.fil
Fil: Kataev, Elmar. Universitat Erlangen-Nuremberg; Alemania
dc.description.fil
Fil: Wechsler, Daniel. Universitat Erlangen-Nuremberg; Alemania
dc.description.fil
Fil: Williams, Federico José. Consejo Nacional de Investigaciones Científicas y Técnicas. Oficina de Coordinación Administrativa Ciudad Universitaria. Instituto de Química, Física de los Materiales, Medioambiente y Energía. Universidad de Buenos Aires. Facultad de Ciencias Exactas y Naturales. Instituto de Química, Física de los Materiales, Medioambiente y Energía; Argentina. Universidad de Buenos Aires. Facultad de Ciencias Exactas y Naturales. Departamento de Química Inorgánica, Analítica y Química Física; Argentina
dc.description.fil
Fil: Köbl, Julia. Universitat Erlangen-Nuremberg; Alemania
dc.description.fil
Fil: Tsud, Natalia. Karlova Univerzita (cuni); República Checa
dc.description.fil
Fil: Franchi, Stefano. Istituto di Struttura della Materia; Italia. Consiglio Nazionale delle Ricerche; Italia
dc.description.fil
Fil: Steinruck, Hans Peter. Universitat Erlangen-Nuremberg; Alemania
dc.description.fil
Fil: Lytken, Ole. Universitat Erlangen-Nuremberg; Alemania
dc.journal.title
Chemphyschem
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dc.relation.alternativeid
info:eu-repo/semantics/altIdentifier/doi/http://dx.doi.org/10.1002/cphc.202000568
dc.relation.alternativeid
info:eu-repo/semantics/altIdentifier/url/https://chemistry-europe.onlinelibrary.wiley.com/doi/10.1002/cphc.202000568
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