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Artículo

Algorithm for Automatic Scaling of the F-Layer Using Image Processing of Ionograms

Fagre, MarianoIcon ; Prados, José A.; Scandaliaris, Jorge; Zossi, Bruno SantiagoIcon ; Cabrera, Miguel Angel; Ezquer, Rodolfo GerardoIcon ; Elias, Ana GeorginaIcon
Fecha de publicación: 01/2021
Editorial: Institute of Electrical and Electronics Engineers
Revista: Ieee Transactions On Geoscience And Remote Sensing
ISSN: 0196-2892
e-ISSN: 1558-0644
Idioma: Inglés
Tipo de recurso: Artículo publicado
Clasificación temática:
Telecomunicaciones

Resumen

In this article, a method is presented for automatic scaling of the F-layer from ionograms based on an image processing technique for the extraction of curvilinear structures. The algorithm obtains the ordinary and extraordinary traces and determines the F2 critical frequency. The performance was tested using a wide data set of ionograms recorded by the Advanced Ionospheric Sounder/Istituto Nazionale di Geofisica e Vulcanologia (AIS/INGV) ionosonde located at Universidad Nacional de Tucumán, Tucuman, Argentina, and the results are compared with manual scaling and also with Autoscala method. Results from these tests show that the method is feasible and can be the seed for the development of a robust automated scaling system.
Palabras clave: F2 CRITICAL FREQUENCY , IMAGE PROCESSING , IONOGRAM AUTOMATIC SCALING , IONOSPHERIC PERTURBATIONS
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info:eu-repo/semantics/embargoedAccess Excepto donde se diga explícitamente, este item se publica bajo la siguiente descripción: Creative Commons Attribution-NonCommercial-ShareAlike 2.5 Unported (CC BY-NC-SA 2.5)
Identificadores
URI: http://hdl.handle.net/11336/138482
URL: https://ieeexplore.ieee.org/document/9106771/
DOI: http://dx.doi.org/10.1109/TGRS.2020.2996405
Colecciones
Articulos (INFINOA)
Articulos de INSTITUTO DE FISICA DEL NOROESTE ARGENTINO
Articulos(CCT - NOA SUR)
Articulos de CTRO.CIENTIFICO TECNOL.CONICET - NOA SUR
Citación
Fagre, Mariano; Prados, José A.; Scandaliaris, Jorge; Zossi, Bruno Santiago; Cabrera, Miguel Angel; et al.; Algorithm for Automatic Scaling of the F-Layer Using Image Processing of Ionograms; Institute of Electrical and Electronics Engineers; Ieee Transactions On Geoscience And Remote Sensing; 59; 1; 1-2021; 220-227
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