Mostrar el registro sencillo del ítem
dc.contributor.author
Etchepareborda, Pablo Gonzalo
![Se ha confirmado la validez de este valor de autoridad por un usuario](/themes/CONICETDigital/images/authority_control/invisible.gif)
dc.contributor.author
Veiras, Francisco Ezequiel
![Se ha confirmado la validez de este valor de autoridad por un usuario](/themes/CONICETDigital/images/authority_control/invisible.gif)
dc.contributor.author
Bianchetti, A.
dc.contributor.author
Federico, A.
dc.contributor.author
González, Martín Germán
![Se ha confirmado la validez de este valor de autoridad por un usuario](/themes/CONICETDigital/images/authority_control/invisible.gif)
dc.date.available
2021-03-31T11:27:01Z
dc.date.issued
2019-06
dc.identifier.citation
Etchepareborda, Pablo Gonzalo; Veiras, Francisco Ezequiel; Bianchetti, A.; Federico, A.; González, Martín Germán; Medición de desplazamientos nanométricos en polímeros piezoeléctricos usando método de descomposición en modos empíricos bivariados en patrones de speckle; Universidad de Buenos Aires. Facultad de Ingeniería; Elektron; 3; 1; 6-2019; 52-57
dc.identifier.issn
2525-0159
dc.identifier.uri
http://hdl.handle.net/11336/129267
dc.description.abstract
En este trabajo se presenta un método óptico para la determinación directa del coeficiente piezoeléctrico de películas delgadas de material polimérico. Esto se logra a través de la medición de desplazamientos mecánicos nanométricos generados en el film cuando es excitado con señales eléctricas armónicas de baja frecuencia (0.5 Hz). El sistema está basado en la inteferometría temporal de patrones de speckle y en la recuperación de fase por descomposición en modos empíricos bivariada. El esquema experimental fue usado sobre una muestra de polifluoruro de vinilideno depositada sobre un substrato de vidrio que presenta condiciones de contorno similares a las que se encuentran en experiencias de caracterización de fluídos complejos por técnicas fotoacústicas. El valor medido concuerda con aquellos obtenidos por otros métodos y con el reportado por el fabricante.
dc.description.abstract
In this work we present an optical method for the direct determination of the piezoelectric coefficient of polymeric thin films. This is achieved through the measurement of nanometric mechanical displacements generated in the film when it is excited by low frequency harmonic electrical signals (0.5 Hz). The system is based on the temporal speckle pattern interferometry technique and the recovery of phase by using a bivariate empirical mode decomposition framework. The experimental scheme was used on a sample of vinylidene polyfluoride deposited on a glass substrate. The sample presents similar conditions to those found in the characterization of complex fluids by photoacoustic techniques. The measured value agrees with those obtained by other methods and with the value reported by the manufacturer.
dc.format
application/pdf
dc.language.iso
spa
dc.publisher
Universidad de Buenos Aires. Facultad de Ingeniería
dc.rights
info:eu-repo/semantics/openAccess
dc.rights.uri
https://creativecommons.org/licenses/by-nc-sa/2.5/ar/
dc.subject
speckle
dc.subject
descomposición de modos empíricos bivariados
dc.subject
polímero piezoeléctrico
dc.subject.classification
Ingeniería Eléctrica y Electrónica
![Se ha confirmado la validez de este valor de autoridad por un usuario](/themes/CONICETDigital/images/authority_control/invisible.gif)
dc.subject.classification
Ingeniería Eléctrica, Ingeniería Electrónica e Ingeniería de la Información
![Se ha confirmado la validez de este valor de autoridad por un usuario](/themes/CONICETDigital/images/authority_control/invisible.gif)
dc.subject.classification
INGENIERÍAS Y TECNOLOGÍAS
![Se ha confirmado la validez de este valor de autoridad por un usuario](/themes/CONICETDigital/images/authority_control/invisible.gif)
dc.subject.classification
Óptica
![Se ha confirmado la validez de este valor de autoridad por un usuario](/themes/CONICETDigital/images/authority_control/invisible.gif)
dc.subject.classification
Ciencias Físicas
![Se ha confirmado la validez de este valor de autoridad por un usuario](/themes/CONICETDigital/images/authority_control/invisible.gif)
dc.subject.classification
CIENCIAS NATURALES Y EXACTAS
![Se ha confirmado la validez de este valor de autoridad por un usuario](/themes/CONICETDigital/images/authority_control/invisible.gif)
dc.title
Medición de desplazamientos nanométricos en polímeros piezoeléctricos usando método de descomposición en modos empíricos bivariados en patrones de speckle
dc.title
Nanometric displacements measurement in piezoelectric polymers using bivariate empirical mode decomposition method in speckle patterns
dc.type
info:eu-repo/semantics/article
dc.type
info:ar-repo/semantics/artículo
dc.type
info:eu-repo/semantics/publishedVersion
dc.date.updated
2021-03-25T13:57:27Z
dc.journal.volume
3
dc.journal.number
1
dc.journal.pagination
52-57
dc.journal.pais
Argentina
![Se ha confirmado la validez de este valor de autoridad por un usuario](/themes/CONICETDigital/images/authority_control/invisible.gif)
dc.journal.ciudad
Ciudad Autónoma de Buenos Aires
dc.description.fil
Fil: Etchepareborda, Pablo Gonzalo. Instituto Nacional de Tecnología Industrial. Centro de Electrónica e Informática; Argentina. Consejo Nacional de Investigaciones Científicas y Técnicas; Argentina
dc.description.fil
Fil: Veiras, Francisco Ezequiel. Universidad de Buenos Aires. Facultad de Ingeniería. Departamento de Física. Laboratorio de Láser; Argentina. Consejo Nacional de Investigaciones Científicas y Técnicas; Argentina
dc.description.fil
Fil: Bianchetti, A.. Instituto Nacional de Tecnología Industrial. Centro de Electrónica e Informática; Argentina
dc.description.fil
Fil: Federico, A.. Instituto Nacional de Tecnología Industrial. Centro de Electrónica e Informática; Argentina
dc.description.fil
Fil: González, Martín Germán. Universidad de Buenos Aires. Facultad de Ingeniería. Departamento de Física. Laboratorio de Láser; Argentina. Consejo Nacional de Investigaciones Científicas y Técnicas; Argentina
dc.journal.title
Elektron
dc.relation.alternativeid
info:eu-repo/semantics/altIdentifier/url/http://elektron.fi.uba.ar/index.php/elektron/article/view/76
Archivos asociados