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Surface characterizationofself-assembled NCu nanostructures

Cristina, Lucila JosefinaIcon ; Moreno López, Juan CarlosIcon ; Sferco, Silvano JuanIcon ; Passeggi, Mario Cesar GuillermoIcon ; Vidal, Ricardo AlbertoIcon ; Ferron, JulioIcon
Fecha de publicación: 01/2012
Editorial: Elsevier Science
Revista: Applied Surface Science
ISSN: 0169-4332
Idioma: Inglés
Tipo de recurso: Artículo publicado

Resumen

We report on the process of low energy nitrogen implantation and annealing of a copper surface. Through auger electron spectroscopy we study the nitrogen diffusion features as a function of the substrate temperature. With STM and LEIS we characterize the surface mofphology and the electronic sturcturi es analyzed with ARUPS.

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Tamaño: 960.9Kb
Formato: PDF
http://www.sciencedirect.com/science/article/pii/S0169433211006507
http://dx.doi.org/10.1016/j.apsusc.2011.04.105
info:eu-repo/semantics/restrictedAccess Excepto donde se diga explícitamente, este item se publica bajo la siguiente descripción: Creative Commons Attribution-NonCommercial-ShareAlike 2.5 Unported (CC BY-NC-SA 2.5)
Citación: Cristina, Lucila Josefina; Moreno López, Juan Carlos; Sferco, Silvano Juan; Passeggi, Mario Cesar Guillermo; Vidal, Ricardo Alberto; et al.; Surface characterizationofself-assembled NCu nanostructures; Elsevier Science; Applied Surface Science; 258; 6; 1-2012; 2047-2051
URI: http://hdl.handle.net/11336/10964
 

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