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dc.contributor.author
Fernández Moroni, Guillermo
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dc.contributor.author
Estrada, Juan
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dc.contributor.author
Cancelo, Gustavo
dc.contributor.author
Paolini, Eduardo Emilio
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dc.contributor.author
Diehl, Thomas
dc.date.available
2020-04-13T15:25:22Z
dc.date.issued
2012-05-06
dc.identifier.citation
Fernández Moroni, Guillermo; Estrada, Juan; Cancelo, Gustavo; Paolini, Eduardo Emilio; Diehl, Thomas; Sub-electron readout noise in a Skipper CCD fabricated on high resistivity silicon; Springer; Experimental Astronomy; 34; 1; 06-5-2012; 43-64
dc.identifier.issn
0922-6435
dc.identifier.uri
http://hdl.handle.net/11336/102365
dc.description.abstract
The readout noise for Charge-Coupled Devices (CCDs) has been the main limitation when using these detectors for measuring small amplitude signals. A scientific CCD fabricated on a high-resistivity silicon substrate utilizing a floating gate amplifier with the capability of multiple sampling of the charge signal is described in this paper. The Skipper CCD architecture and its advantages for low noise applications are discussed. A technique for obtaining sub-electron readout noise levels is presented, and its noise and signal characteristics are derived. We demonstrate that with this procedure a very low readout noise of 0.2e − RMS can be achieved. The contribution of other noise sources (output stage, vertical and horizontal charge transfer inefficiency, and dark current noise) are also considered. The optimum number of samples for achieving the total lowest possible noise level is obtained. This technique is applied to an X-rays experiment using a 55Fe source.
dc.format
application/pdf
dc.language.iso
eng
dc.publisher
Springer
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dc.rights
info:eu-repo/semantics/openAccess
dc.rights.uri
https://creativecommons.org/licenses/by-nc-sa/2.5/ar/
dc.subject
SKIPPER CCD
dc.subject
SUB-ELECTRON NOISE
dc.subject
FLOATING GATE OUTPUT STAGE
dc.subject.classification
Ingeniería Eléctrica y Electrónica
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dc.subject.classification
Ingeniería Eléctrica, Ingeniería Electrónica e Ingeniería de la Información
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dc.subject.classification
INGENIERÍAS Y TECNOLOGÍAS
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dc.title
Sub-electron readout noise in a Skipper CCD fabricated on high resistivity silicon
dc.type
info:eu-repo/semantics/article
dc.type
info:ar-repo/semantics/artículo
dc.type
info:eu-repo/semantics/publishedVersion
dc.date.updated
2020-04-07T13:33:16Z
dc.identifier.eissn
1572-9508
dc.journal.volume
34
dc.journal.number
1
dc.journal.pagination
43-64
dc.journal.pais
Alemania
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dc.journal.ciudad
Berlín
dc.description.fil
Fil: Fernández Moroni, Guillermo. Consejo Nacional de Investigaciones Científicas y Técnicas. Centro Científico Tecnológico Conicet - Bahía Blanca. Instituto de Investigaciones en Ingeniería Eléctrica "Alfredo Desages". Universidad Nacional del Sur. Departamento de Ingeniería Eléctrica y de Computadoras. Instituto de Investigaciones en Ingeniería Eléctrica "Alfredo Desages"; Argentina. Fermi National Accelerator Laboratory; Estados Unidos
dc.description.fil
Fil: Estrada, Juan. Fermi National Accelerator Laboratory; Estados Unidos
dc.description.fil
Fil: Cancelo, Gustavo. Fermi National Accelerator Laboratory; Estados Unidos
dc.description.fil
Fil: Paolini, Eduardo Emilio. Consejo Nacional de Investigaciones Científicas y Técnicas. Centro Científico Tecnológico Conicet - Bahía Blanca. Instituto de Investigaciones en Ingeniería Eléctrica "Alfredo Desages". Universidad Nacional del Sur. Departamento de Ingeniería Eléctrica y de Computadoras. Instituto de Investigaciones en Ingeniería Eléctrica "Alfredo Desages"; Argentina. Provincia de Buenos Aires. Gobernación. Comisión de Investigaciones Científicas; Argentina
dc.description.fil
Fil: Diehl, Thomas. Fermi National Accelerator Laboratory; Estados Unidos
dc.journal.title
Experimental Astronomy
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dc.relation.alternativeid
info:eu-repo/semantics/altIdentifier/url/https://link.springer.com/article/10.1007/s10686-012-9298-x
dc.relation.alternativeid
info:eu-repo/semantics/altIdentifier/doi/http://dx.doi.org/10.1007/s10686-012-9298-x
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