Geach, J. E.; Lin, Y. -T.; Makler, M.; Kneib, Jean Paul; Ross, N. P.; Wang, W.-H.; Hsieh, B.-C.; Leauthaud, A.; Bundy, K.; McCracken, H.J.; Comparat, J.; Caminha, G. B.; Hudelot, P.; Lin, L.; Waerbeke, L. Van; Pereira, M. E. S.; Mast, Damian(IOP Publishing, 2017-07)