Mostrar el registro sencillo del ítem

dc.contributor.author
Sanjuan, Federico Ezequiel  
dc.contributor.author
Bockelt, Alexander  
dc.contributor.author
Vidal, Borja  
dc.date.available
2017-01-24T20:23:59Z  
dc.date.issued
2014-08  
dc.identifier.citation
Sanjuan, Federico Ezequiel; Bockelt, Alexander; Vidal, Borja; Determination of refractive index and thickness of a multilayer structure with a single terahertz time domain spectroscopy measurement; Optical Society Of America; Applied Optics; 53; 22; 8-2014; 4910-4913  
dc.identifier.issn
1559-128X  
dc.identifier.uri
http://hdl.handle.net/11336/11863  
dc.description.abstract
A processing technique for the determination of the average refractive index and thickness of a two-layer system is presented. It is based on a single measurement with a standard terahertz time-domain spectrometer and the multilayer system thickness. The technique relies on the interference caused by the main pulse with the echoes produced in each material. This approach allows noninvasive inspection of double-layer compound products.  
dc.format
application/pdf  
dc.language.iso
eng  
dc.publisher
Optical Society Of America  
dc.rights
info:eu-repo/semantics/openAccess  
dc.rights.uri
https://creativecommons.org/licenses/by-nc-sa/2.5/ar/  
dc.subject
Optical Properties  
dc.subject
Spectroscopy  
dc.subject
Interference  
dc.subject
Terahertz  
dc.subject.classification
Otras Ingeniería Eléctrica, Ingeniería Electrónica e Ingeniería de la Información  
dc.subject.classification
Ingeniería Eléctrica, Ingeniería Electrónica e Ingeniería de la Información  
dc.subject.classification
INGENIERÍAS Y TECNOLOGÍAS  
dc.title
Determination of refractive index and thickness of a multilayer structure with a single terahertz time domain spectroscopy measurement  
dc.type
info:eu-repo/semantics/article  
dc.type
info:ar-repo/semantics/artículo  
dc.type
info:eu-repo/semantics/publishedVersion  
dc.date.updated
2017-01-24T14:42:01Z  
dc.identifier.eissn
2155-3165  
dc.journal.volume
53  
dc.journal.number
22  
dc.journal.pagination
4910-4913  
dc.journal.pais
Estados Unidos  
dc.journal.ciudad
Washington  
dc.description.fil
Fil: Sanjuan, Federico Ezequiel. Consejo Nacional de Investigaciones Científicas y Técnicas. Centro Científico Tecnológico la Plata. Centro de Investigaciones Opticas (i); Argentina. Provincia de Buenos Aires. Gobernación. Comisión de Investigaciones Científicas; Argentina  
dc.description.fil
Fil: Bockelt, Alexander. Universidad Politecnica de Valencia; España  
dc.description.fil
Fil: Vidal, Borja. Universidad Politecnica de Valencia; España  
dc.journal.title
Applied Optics  
dc.relation.alternativeid
info:eu-repo/semantics/altIdentifier/doi/https://doi.org/10.1364/AO.53.004910  
dc.relation.alternativeid
info:eu-repo/semantics/altIdentifier/url/https://www.osapublishing.org/ao/abstract.cfm?uri=ao-53-22-4910  

Archivos asociados
Thumbnail
 
Tamaño: 229.2Kb
Formato: PDF
.