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dc.contributor.author
Antonacci, Julian
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dc.contributor.author
Morel, Eneas Nicolas
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dc.contributor.author
Torga, Jorge Román
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dc.contributor.author
Duchowicz, Ricardo
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dc.contributor.author
Arenas, Gustavo Francisco
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dc.date.available
2019-12-02T20:32:28Z
dc.date.issued
2018-11
dc.identifier.citation
Antonacci, Julian; Morel, Eneas Nicolas; Torga, Jorge Román; Duchowicz, Ricardo; Arenas, Gustavo Francisco; Improved spectral resolution in time-varying interferometry; Elsevier; Optics And Lasers In Engineering; 110; 11-2018; 457-461
dc.identifier.issn
0143-8166
dc.identifier.uri
http://hdl.handle.net/11336/91121
dc.description.abstract
In this work, we present a procedure that allows increasing the resolution of dynamic length measurements made by spectral interferometry. The proposed scheme leads to obtaining a compact photonic instrument with the ability to measure distances, variations on positions and vibrations with a very high resolution. This measurement system includes a superluminescent source (SLED), a digital spectrometer and a Fizeau interferometer. Spectral data is processed by applying Fourier domain techniques previously applied in optical coherence tomography. The resolution of the spectral measurement system is determined by the spectrometer bandwidth and the light source employed. A signal is obtained by analysing the time evolution of a single pixel from the spectrometer CCD sensor, which is later analysed using time domain interferometry (TDI) techniques. This procedure works by detecting changes in the optical path below those that can be detected by spectral analysis. The original resolution obtained with the solely spectral techniques was 2.2 µm but was improved to 40 nm by complementary analysis of temporal signals.
dc.format
application/pdf
dc.language.iso
eng
dc.publisher
Elsevier
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dc.rights
info:eu-repo/semantics/openAccess
dc.rights.uri
https://creativecommons.org/licenses/by-nc-sa/2.5/ar/
dc.subject
Interferometry
dc.subject
Superluminiscent diodes
dc.subject.classification
Óptica
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dc.subject.classification
Ciencias Físicas
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dc.subject.classification
CIENCIAS NATURALES Y EXACTAS
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dc.subject.classification
Ingeniería Eléctrica y Electrónica
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dc.subject.classification
Ingeniería Eléctrica, Ingeniería Electrónica e Ingeniería de la Información
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dc.subject.classification
INGENIERÍAS Y TECNOLOGÍAS
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dc.title
Improved spectral resolution in time-varying interferometry
dc.type
info:eu-repo/semantics/article
dc.type
info:ar-repo/semantics/artículo
dc.type
info:eu-repo/semantics/publishedVersion
dc.date.updated
2019-10-21T18:35:16Z
dc.journal.volume
110
dc.journal.pagination
457-461
dc.journal.pais
Países Bajos
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dc.journal.ciudad
Amsterdam
dc.description.fil
Fil: Antonacci, Julian. Consejo Nacional de Investigaciones Científicas y Técnicas. Centro Científico Tecnológico Conicet - Mar del Plata. Instituto de Investigaciones Científicas y Tecnológicas en Electrónica. Universidad Nacional de Mar del Plata. Facultad de Ingeniería. Instituto de Investigaciones Científicas y Tecnológicas en Electrónica; Argentina
dc.description.fil
Fil: Morel, Eneas Nicolas. Consejo Nacional de Investigaciones Científicas y Técnicas; Argentina. Universidad Tecnológica Nacional. Facultad Regional Delta; Argentina
dc.description.fil
Fil: Torga, Jorge Román. Consejo Nacional de Investigaciones Científicas y Técnicas; Argentina. Universidad Tecnológica Nacional. Facultad Regional Delta; Argentina
dc.description.fil
Fil: Duchowicz, Ricardo. Consejo Nacional de Investigaciones Científicas y Técnicas. Centro Científico Tecnológico Conicet - La Plata. Centro de Investigaciones Ópticas. Provincia de Buenos Aires. Gobernación. Comisión de Investigaciones Científicas. Centro de Investigaciones Ópticas. Universidad Nacional de La Plata. Centro de Investigaciones Ópticas; Argentina
dc.description.fil
Fil: Arenas, Gustavo Francisco. Consejo Nacional de Investigaciones Científicas y Técnicas. Centro Científico Tecnológico Conicet - Mar del Plata. Instituto de Investigaciones Científicas y Tecnológicas en Electrónica. Universidad Nacional de Mar del Plata. Facultad de Ingeniería. Instituto de Investigaciones Científicas y Tecnológicas en Electrónica; Argentina
dc.journal.title
Optics And Lasers In Engineering
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dc.relation.alternativeid
info:eu-repo/semantics/altIdentifier/url/https://www.sciencedirect.com/science/article/pii/S0143816618304032
dc.relation.alternativeid
info:eu-repo/semantics/altIdentifier/doi/https://doi.org/10.1016/j.optlaseng.2018.07.003
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