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dc.contributor.author
Antonacci, Julian  
dc.contributor.author
Morel, Eneas Nicolas  
dc.contributor.author
Torga, Jorge Román  
dc.contributor.author
Duchowicz, Ricardo  
dc.contributor.author
Arenas, Gustavo Francisco  
dc.date.available
2019-12-02T20:32:28Z  
dc.date.issued
2018-11  
dc.identifier.citation
Antonacci, Julian; Morel, Eneas Nicolas; Torga, Jorge Román; Duchowicz, Ricardo; Arenas, Gustavo Francisco; Improved spectral resolution in time-varying interferometry; Elsevier; Optics And Lasers In Engineering; 110; 11-2018; 457-461  
dc.identifier.issn
0143-8166  
dc.identifier.uri
http://hdl.handle.net/11336/91121  
dc.description.abstract
In this work, we present a procedure that allows increasing the resolution of dynamic length measurements made by spectral interferometry. The proposed scheme leads to obtaining a compact photonic instrument with the ability to measure distances, variations on positions and vibrations with a very high resolution. This measurement system includes a superluminescent source (SLED), a digital spectrometer and a Fizeau interferometer. Spectral data is processed by applying Fourier domain techniques previously applied in optical coherence tomography. The resolution of the spectral measurement system is determined by the spectrometer bandwidth and the light source employed. A signal is obtained by analysing the time evolution of a single pixel from the spectrometer CCD sensor, which is later analysed using time domain interferometry (TDI) techniques. This procedure works by detecting changes in the optical path below those that can be detected by spectral analysis. The original resolution obtained with the solely spectral techniques was 2.2 µm but was improved to 40 nm by complementary analysis of temporal signals.  
dc.format
application/pdf  
dc.language.iso
eng  
dc.publisher
Elsevier  
dc.rights
info:eu-repo/semantics/openAccess  
dc.rights.uri
https://creativecommons.org/licenses/by-nc-sa/2.5/ar/  
dc.subject
Interferometry  
dc.subject
Superluminiscent diodes  
dc.subject.classification
Óptica  
dc.subject.classification
Ciencias Físicas  
dc.subject.classification
CIENCIAS NATURALES Y EXACTAS  
dc.subject.classification
Ingeniería Eléctrica y Electrónica  
dc.subject.classification
Ingeniería Eléctrica, Ingeniería Electrónica e Ingeniería de la Información  
dc.subject.classification
INGENIERÍAS Y TECNOLOGÍAS  
dc.title
Improved spectral resolution in time-varying interferometry  
dc.type
info:eu-repo/semantics/article  
dc.type
info:ar-repo/semantics/artículo  
dc.type
info:eu-repo/semantics/publishedVersion  
dc.date.updated
2019-10-21T18:35:16Z  
dc.journal.volume
110  
dc.journal.pagination
457-461  
dc.journal.pais
Países Bajos  
dc.journal.ciudad
Amsterdam  
dc.description.fil
Fil: Antonacci, Julian. Consejo Nacional de Investigaciones Científicas y Técnicas. Centro Científico Tecnológico Conicet - Mar del Plata. Instituto de Investigaciones Científicas y Tecnológicas en Electrónica. Universidad Nacional de Mar del Plata. Facultad de Ingeniería. Instituto de Investigaciones Científicas y Tecnológicas en Electrónica; Argentina  
dc.description.fil
Fil: Morel, Eneas Nicolas. Consejo Nacional de Investigaciones Científicas y Técnicas; Argentina. Universidad Tecnológica Nacional. Facultad Regional Delta; Argentina  
dc.description.fil
Fil: Torga, Jorge Román. Consejo Nacional de Investigaciones Científicas y Técnicas; Argentina. Universidad Tecnológica Nacional. Facultad Regional Delta; Argentina  
dc.description.fil
Fil: Duchowicz, Ricardo. Consejo Nacional de Investigaciones Científicas y Técnicas. Centro Científico Tecnológico Conicet - La Plata. Centro de Investigaciones Ópticas. Provincia de Buenos Aires. Gobernación. Comisión de Investigaciones Científicas. Centro de Investigaciones Ópticas. Universidad Nacional de La Plata. Centro de Investigaciones Ópticas; Argentina  
dc.description.fil
Fil: Arenas, Gustavo Francisco. Consejo Nacional de Investigaciones Científicas y Técnicas. Centro Científico Tecnológico Conicet - Mar del Plata. Instituto de Investigaciones Científicas y Tecnológicas en Electrónica. Universidad Nacional de Mar del Plata. Facultad de Ingeniería. Instituto de Investigaciones Científicas y Tecnológicas en Electrónica; Argentina  
dc.journal.title
Optics And Lasers In Engineering  
dc.relation.alternativeid
info:eu-repo/semantics/altIdentifier/url/https://www.sciencedirect.com/science/article/pii/S0143816618304032  
dc.relation.alternativeid
info:eu-repo/semantics/altIdentifier/doi/https://doi.org/10.1016/j.optlaseng.2018.07.003