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Artículo

Novel technique for the calculation of eddy current losses and Lorentz forces in foil winding transformers

Díaz Flórez, Guillermo A.; Mombello, Enrique EstebanIcon ; Voss, Stephan
Fecha de publicación: 09/08/2017
Editorial: IOS Press
Revista: International Journal of Applied Electromagnetics and Mechanics
ISSN: 1383-5416
Idioma: Inglés
Tipo de recurso: Artículo publicado
Clasificación temática:
Ingeniería Eléctrica y Electrónica

Resumen

This paper presents a new methodology to calculate eddy current losses and Lorentz forces in foil winding transformers. This methodology is based on the equivalent winding current distribution in the foil winding and the iron core obtained by means of the Semianalytic Integral Method (SAIM) [1]. The main advantage of the calculation technique presented in this paper is that it is based on  mathematical expressions which are compact and easy to evaluate, thus achieving a considerable<br />reduction in the overall time required to determine the design parameters of the transformer. The results obtained from the proposed formulation have been compared to those obtained using the finite element method (FEM) using as a case study a 10 MVA transformer and an excellent agreement between both techniques has been obtained.
Palabras clave: Integral Methods , Surface Current , Finite-Element Method (Fem) , Skin Effect , Proximity Effect
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info:eu-repo/semantics/openAccess Excepto donde se diga explícitamente, este item se publica bajo la siguiente descripción: Creative Commons Attribution-NonCommercial-ShareAlike 2.5 Unported (CC BY-NC-SA 2.5)
Identificadores
URI: http://hdl.handle.net/11336/63551
DOI: http://dx.doi.org/10.3233/JAE-160144
URL: https://content.iospress.com/articles/international-journal-of-applied-electroma
Colecciones
Articulos(IEE)
Articulos de INSTITUTO DE ENERGIA ELECTRICA
Citación
Díaz Flórez, Guillermo A.; Mombello, Enrique Esteban; Voss, Stephan; Novel technique for the calculation of eddy current losses and Lorentz forces in foil winding transformers; IOS Press; International Journal of Applied Electromagnetics and Mechanics; 55; 1; 9-8-2017; 75-88
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