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Multiscale ordinal symbolic analysis of the Lang-Kobayashi model for external-cavity semiconductor lasers: a test of theory

Li, Nianqiang; Zunino, Luciano JoséIcon ; Locquet, Alexandre; Kim, Byungchil; Choi, Daeyoung; Pan, Wei; Citrin, David
Fecha de publicación: 08/2015
Editorial: Institute of Electrical and Electronics Engineers
Revista: IEEE Journal Of Quantum Electronics
ISSN: 0018-9197
e-ISSN: 1558-1713
Idioma: Inglés
Tipo de recurso: Artículo publicado
Clasificación temática:
Óptica

Resumen

We study experimentally and theoretically the permutation entropy (PE) of the optical intensity I(t) of an external-cavity semiconductor distributed feedback laser in the coherence collapse regime. Our PE analysis allows us to uncover the intrinsic dynamical complexity at multiple timescales of the delayed-feedback system, as well as to investigate how the experimental observations can be determined by modeling. An overall good agreement between experiment and theory corroborates the effectiveness of the Lang–Kobayashi model, though the model underestimates the entropy on the timescale of the relaxation oscillations and can lead to a time-delay signature that is less evident than in experiment, indicating a potential vulnerability of chaos encryption. This provides a critical test of the standard theoretical framework in which chaotic externalcavity semiconductor lasers are understood.
Palabras clave: Chaos , Lang-Kobayashi Model , Multiscale , Permutation Entropy , Semiconductor Laser
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info:eu-repo/semantics/openAccess Excepto donde se diga explícitamente, este item se publica bajo la siguiente descripción: Creative Commons Attribution-NonCommercial-ShareAlike 2.5 Unported (CC BY-NC-SA 2.5)
Identificadores
URI: http://hdl.handle.net/11336/23867
DOI: http://dx.doi.org/10.1109/JQE.2015.2447392
URL: http://ieeexplore.ieee.org/document/7128320
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Citación
Li, Nianqiang; Zunino, Luciano José; Locquet, Alexandre; Kim, Byungchil; Choi, Daeyoung; et al.; Multiscale ordinal symbolic analysis of the Lang-Kobayashi model for external-cavity semiconductor lasers: a test of theory; Institute of Electrical and Electronics Engineers; IEEE Journal Of Quantum Electronics; 51; 8; 8-2015; 2200206-2200206
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