Artículo
El estudio detallado de la respuesta de los materiales lineales anisótropos ante campos electromagnéticos tiene como uno de sus fines el de diseñar nuevos dispositivos de interés en Óptica, Optoelectrónica y Electrónica. En este trabajo presentamos una herramienta numérica sencilla que es capaz de determinar las características de la propagación de las ondas planas a través de una interfaz isótropo-anisótropo uniaxial con dirección arbitraria del eje óptico respecto a la dirección de incidencia. Los algoritmos fueron comprobados con los resultados analíticos en los casos en que el plano de incidencia coincide con cada uno de los planos principales del cristal. The detailed study of the response of anisotropic linear materials to electromagnetic fields has as one of its aims the design of new devices of interest in Optics, Optoelectronics and Electronics. In this paper we present a simple computer tool that is able to determine the characteristics of the propagation of plane waves through an isotropic-anisotropic uniaxial interface with arbitrary direction of the optical axis with respect to the direction of incidence. The algorithms were checked with the analytical results in cases where the incidence plane coincides with each of the principal planes of the crystal
Interfaces isótropo-anisótropo: Un código numérico para caracterizar la reflexión y refracción
Título:
Isotropic-anisotropic interfaces: An algorithm to characterize reflection and refraction
Fecha de publicación:
12/2019
Editorial:
Universidad de Buenos Aires. Facultad de Ingeniería. Departamento de Electrónica
Revista:
Elektron
ISSN:
2525-0159
Idioma:
Español
Tipo de recurso:
Artículo publicado
Clasificación temática:
Resumen
Palabras clave:
ANISOTROPÍA
,
TRANSMISIÓN
,
DISPOSITIVOS OPTOELECTRÓNICOS
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Citación
Caro, Germán Eduardo; Acosta, Eduardo Omar; Veiras, Francisco Ezequiel; Perez, Liliana Ines; Interfaces isótropo-anisótropo: Un código numérico para caracterizar la reflexión y refracción; Universidad de Buenos Aires. Facultad de Ingeniería. Departamento de Electrónica; Elektron; 3; 2; 12-2019; 103-111
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