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Fecha de publicación

2009

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Tipo de documento

Artículos

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Tipo de acceso

Acceso abierto

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Idioma

Inglés

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Autor

Palabras clave

Cacu3ti4o12

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Autor:Ramírez, Miguel A. X

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Artículo

A polaronic stacking fault defect model for CaCu3Ti4O12 material: an approach for the origin of the huge dielectric constant and semiconducting coexistent features

Bueno, Paulo R. ; Tararan, Ronald ; Parra, Rodrigo ; Joanni, Ednan ; Ramírez, Miguel A. ; Ribeiro, Willian C. ; Longo, Elson ; Varela, José A. (IOP Publishing, 2009-02-09)

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