SILVIO JUAN LUDUEÑA

Datos académicos

Lugar de trabajo UNIVERSIDAD DE BUENOS AIRES / FACULTAD DE CIENCIAS EXACTAS Y NATURALES / CENTRO DE MICROSCOPIAS AVANZADAS
Título ASISTENTE DE INVEST.EN FISICA
Grado Universitario de grado
Especialidad Brindar servicios de microscopia SEM y AFM con sus técnicas asociadas, en particular ampliar el estudio de propiedades mecánicas a escala nanométrica mediante la técnica Peak Force-AFM. Procesar las imágenes de los servicios de AFM. Controlar el sistema de refrigeración por agua para los microscopios electrónicos. Reparar y mantener el instrumental que lo requiera para su correcto funcionamiento. Mantener y controlar el suministro de nitrógeno liquido para el equipo de EDS. Mantener y controlar el suministro de nitrógeno gaseoso para la cámara de atmosfera controlada del AFM y para el sistema de vacio del SEM. Metalizar las muestras de SEM que lo requieran. Preparar las muestras de AFM de los servicios que así lo requieran. Participar en capacitaciones relacionadas a las microscopías utilizadas.

PRODUCCION CIENTÍFICO TECNOLÓGICA